Подробно исследованы зависимости от дозы концентрации парамагнитных центров с g=2.0055 при облучении кремния ионамиGe+, Ar+ иNe+. Показано, что во всех случаях зависимости характеризуются (ранее не замеченным) наличием максимумов при дозах, соответствующих переходу к полной аморфизации. Эта особе...
Подробно исследованы зависимости от дозы концентрации парамагнитных центров с g=2.0055 при облучении кремния ионамиGe+, Ar+ иNe+. Показано, что во всех случаях зависимости характеризуются (ранее не замеченным) наличием максимумов при дозах, соответствующих переходу к полной аморфизации. Эта особенность объяснена на основе модели, предполагающей дополнительный вклад в электронный парамагнитный резонанс от оборванных связей, расположенных на границе раздела нанокристаллов с аморфной матрицей.
Тетельбаум Д.И., Ежевский А.А., Михайлов А.Н. Экстремальная дозовая зависимость концентрации парамагнитных центров, обусловленных оборванными связями вSi, приионном облучении, как свидетельство наноструктурирования // ФТП, 2003, том 37, выпуск 11, Стр. 1380