В интервале температур 10--40 K исследованы спектры фотолюминесценции гетероструктур, содержащих короткопериодные GaAs/AlAs-сверхрешетки типа II, выращенные как в режиме выглаживания, так и без выглаживания гетерограниц. Количественный анализ экспериментальных данных показал, что в большинст...
В интервале температур 10--40 K исследованы спектры фотолюминесценции гетероструктур, содержащих короткопериодные GaAs/AlAs-сверхрешетки типа II, выращенные как в режиме выглаживания, так и без выглаживания гетерограниц. Количественный анализ экспериментальных данных показал, что в большинстве случаев тушение экситонной люминесценции характеризуется единым значением энергии активации E2=8±1 meV, совпадающим с величиной энергии связи X-Gamma-экситонов. Сделан вывод о том, что основной причиной тушения в исследуемом температурном интервале является термический разрыв экситона на пару свободных носителей, делокализация которых сопровождается безызлучательной рекомбинацией на ловушках. Обнаружено, что выглаживание гетерограниц приводит к увеличению вероятности тушения в среднем на 1--2 десятичных порядка.
Герловин И.Я., Долгих Ю.К., Ефимов Ю.П., Игнатьев И.В., Новицкая Е.Е., Овсянкин В.В. Температурная делокализация возбуждений в GaAs/AlAs-сверхрешетках типа II // ФТТ, 1998, том 40, выпуск 6, Стр. 1140