Связанные научные тематики:
тег
 
тег
 




 Найдено научных статей и публикаций: 676, для научной тематики: Электронные и оптические свойства полупроводников


121.

Влияние диффузии Te изподложки n-GaSb : Te насвойства твердых растворов GaInAsSb, выращенных вприсутствии свинца     

Воронина Т.И., Лагунова Т.С., Липаев А.Ф., Куницына Е.В., Пархоменко Я.А., Сиповская М.А., Яковлев Ю.П. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2005
Исследовано влияние диффузии Te из подложки n-GaSb : Te на транспортные и фотоэлектрические свойства твердых растворов GaInAsSb, выращенных из содержащих свинец растворов-расплавов. Показано, что наибольшее влияние диффузии Te из подложки наблюдается в эпитаксиальных слоях твердых растворов толщи...
122.

Spectroscopic parameters ofLVM absorption bands of carbon andoxygen impurities in isotopic enriched silicon 28Si, 29Si and30Si     

Sennikov P.G., Kotereva T.V., Kurganov A.G., Andreev B.A., Niemann H., Schiel D., Emtsev V.V., Pohl H.-J. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2005
The IR spectra of all three Si isotopes in the form of bulk single crystals (28Si with enrichment more as99.9%, 29Si and 30Si with enrichment more than90%) has been studied at T=300, 17 and5 K in spectral range 550-1200 cm-1. IRactive local vibrational modes(LVM) of the Si-12C centered at...
123.

Влияние уплотнения на люминесцентные свойства порошков ZnS : Ga     

Бачериков Ю.Ю., Кицюк Н.В., Оптасюк С.В., Стадник А.А. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2005
Исследованы порошки сульфида цинка, термолегированные галлием. Рассмотрены механизмы диффузии Ga в порошках ZnS в зависимости от плотности упаковки частиц порошка. Сэтой целью часть исследуемых порошков ZnS гранулировалась в таблетки. Установлено, что легирование галлием порошков ZnS протекает бо...
124.

Накопление радиационных дефектов варсениде галлия приимпульсном инепрерывном облучении ионами     

Ардышев М.В., Ардышев В.М., Крючков Ю.Ю. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2005
Методами электропроводности и резерфордовского обратного рассеяния исследовано накопление дефектов в GaAs при импульсной (taup=1.3·10-2 c, скважность100) и непрерывной имплантации ионов32S, 12C и4He при комнатной температуре в диапазонах E=100-150 кэВ, Phi=1·109-6·1016 см-2 иj=1...
125.

Статистика электронов вPbS сU-центрами     

Немов С.А., Насрединов Ф.С., Серегин П.П., Серегин Н.П., Хужакулов Э.С. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2005
С использованием распределения Гиббса получена зависимость концентрации промежуточного зарядового состоянияSn3+ двухэлектронных центров олова вPbS от корреляционной энергии. Показано, что такое состояние олова не может быть обнаружено с помощью мессбауэровской спектроскопии на изотопе 119Sn (из-з...
126.

Спектры отражения двух полиморфных модификаций арсенида кадмия     

Козлов А.И., Соболев В.В., Князев А.Ф. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2005
Представлены новые результаты исследования оптических свойств арсенида кадмия. Наиболее достоверные спектры отражения со сложной поляризованной структурой были получены благодаря использованию совершенных кристаллов и прецизионной спектральной техники. Спектры отражения полиморфных модификаций al...
127.

Спектроскопия германия, легированного Ga, при одноосном сжатии     

Покровский Я.Е., Хвальковский Н.А. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2005
Для идентификации оптических переходов, за счет которых в одноосно-сжатом германии, легированном галлием, возможно возбуждение длинноволнового стимулированного излучения, исследованы спектры поглощения и фотопроводимости этого материала в широком интервале давлений в направлениях[111] и[001]. Уст...
128.

Влияние импульсного токового отжига наэлектрофизические характеристики поликристаллического кремния p-типа     

Гридчин В.А., Любимский В.М. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2005
Исследовано влияние импульсного токового отжига на электропроводность, концентрацию, подвижность дырок и пьезосопротивление в поликристаллическом кремнии. Отжиг проводился последовательностью импульсов тока, что позволило уменьшить величину порогового тока. После импульсного отжига наблюдается ро...
129.

Исследование активации примеси вInP, имплантированном ионами бериллия, методом фотоотражения     

Авакянц Л.П., Боков П.Ю., Червяков А.В. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2005
Методом спектроскопии фотоотражения исследован процесс активации примеси в кристаллаx InP, имплантированных ионами Be+ с энергией 100 кэВ и дозой 1013 см-2 иподвергнутых термическому отжигу в течение10 с. При температурах отжига до 400oC в спектрах отсутствуют линии, характерные для кристаллическ...
130.

Abinitio studies of band parameters of A IIIB V and A IIB VI zinc-blende semiconductors     

Karazhanov S.Zh., Lew Yan Voon L.C. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2005
Electronic band-structure calculations have been performed for zinc-blende AIIIBV (AlP, AlAs, AlSb, GaP, GaAs, GaP, InP, InAs, InSb) and AIIBVI (ZnS, ZnSe, ZnTe, CdS, CdSe, CdTe) semiconductors by the ab initio pseudopotential method within the local-density approximation (LDA). The lattice p...