Найдено научных статей и публикаций: 165   
71.

Упругость и неупругость керамических образцов графитоподобного нитрида бора     

Кардашев Б.К., Буренков Ю.А., Смирнов Б.И., Шпейзман В.В., Степанов В.А., Чернов В.М., Singh D., Goretta K.C. - Журнал "Физика Твердого Тела" , 2001
Изучено влияние температуры и амплитуды деформации на модуль Юнга и поглощение ультразвука в керамических образцах графитоподобного нитрида бора, приготовленных в РФ и США по различным технологиям с применением разных добавок, улучшающих механические свойства керамики. Показано, что добавки помимо влияния на действующий модуль упругости увеличивают микропластичность образцов, что, по всей видимости, приводит к увеличению прочности материалов. Работа выполнена при поддержке РФФИ (грант N 00-01-00482), а также NATO (грант PST.GLG.977016) и Департамента энергии США (контракт W-31-109-Eng-38).
72.

Захват потока и разорванные вихри Абрикосова в керамических иттриевых ВТСП образцах     

Хирный В.Ф., Козловский А.А. - Журнал "Физика Твердого Тела" , 2001
Получено непосредственное доказательство существования разорванных вихрей Абрикосова из измерений вида распределения и величины остаточных магнитных полей в пространстве керамических иттриевых ВТСП образцов после выключения транспортного тока. При этом усредненная по всему образцу межгранульная магнитная индукция имеет то же направление, что и поле, созданное до его выключения.
73.

Поперечное скольжение дислокации вультразвуковом поле ивлияние наэтот процесс амплитуды ичастоты ультразвука, ориентации образца икоэффициента динамической вязкости     

Тяпунина Н.А., Бушуева Г.В., Силис М.И., Подсобляев Д.С., Лихушин Ю.Б., Богуненко В.Ю. - Журнал "Физика Твердого Тела" , 2003
Методом ЭВМ моделирования исследованы особенности движения под действием ультразвука винтовой дислокации с учетом ее поперечного скольжения в неоднородном по пространству поле напряжений, создаваемом одноименной неподвижной дислокацией. Показано, что поперечное скольжение могут испытывать только дислокации, стартующие из определенных областей пространства. Приведены закономерности изменения размера и формы этих областей от параметров ультразвука, кристаллографической ориентации образца и коэффициента динамической вязкости.
74.

О возможности оптического измерения деформаций с помощью устойчивого выжигания провалов в непрозрачном образце     

Ребане К.К. - Журнал "Физика Твердого Тела" , 2006
Метод выжигания провалов позволяет запоминать (\glqq фотографировать\grqq) структуру поля деформаций, в том числе и динамических, и выбирать точку измерения в глубине образца. Указано на еще одну интересную возможность --- измерение деформации в материале, не прозрачном для света. Для этого надо в образец внедрить оптические волокна --- световоды и активировать их чувствительными к выжиганию провалов примесями, имеющими в спектрах хорошие бесфононные линии. PACS: 78.40.-q, 78.30.-j
75.

Фотоакустическая спектроскопия пористого кремния     

Образцов А.Н., Окуши Х., Ватанабе Х., Тимошенко В.Ю. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 1997
Представлены результаты исследования оптического поглощения в пленках пористого кремния в диапазоне 300/ 1500 нм с помощью фотоакустической спектроскопии. Обнаружено, что обусловленный пористым слоем край фундаментального поглощения для исследованных образцов находится в диапазоне от 350 до 500 нм. Из зависимости фотоакустического сигнала от частоты модуляции света определено, что теплопроводность пористого кремния составляет 0.25· 10-3 Вт/см·град.
76.

Индентификация параметров примесных уровней ввысокоомных полупроводниковых кристаллах спомощью термостимулированных токов придозированном освещении образцов     

Кашерининов П.Г., Матюхин Д.Г. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 1998
Предложен метод идентификации параметров примесных уровней в высокоомных (изолирующих) полупроводниковых кристаллах, позволяющий с помощью термостимулированных токов при дозированном освещении образцов, определять одновременно глубину залегания примесных уровней в запрещенной зоне кристалла (Delta E) и устанавливать, от края какой из разрешенных зон следует отсчитывать найденную глубину залегания уровней, что не позволило широко распространненный обычный метод термостимулированных токов.
77.

Поглощение света и фотолюминесценция пористого кремния     

Образцов А.Н., Караванский В.А., Окуши Х., Ватанабе Х. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 1998
Представлены результаты исследования комбинационного рассеяния света, фотолюминесценции, отражения и поглощения света в слоях пористого кремния, полученных электрохимическим травлением монокристаллических пластин. На основании анализа экспериментальных данных делается вывод о множественном характере центров, ответственных за излучательную и безызлучательную рекомбинацию в этом материале. Экспериментальные данные указывают на однородное распределение тех центров, максимум оптического возбужения которых находится в сине-зеленой области спектра, в отличие от центров, область эффективного возбуждения которых соответствует красной спектральной области. Эффективность излучательной рекомбинации последних повышается в тонком приповерхностном слое пленки пористого кремния.
78.

Сравнительное исследование оптических свойств пористого кремния и оксидов SiO и SiO2     

Образцов А.Н., Тимошенко В.Ю., Окуши Х., Ватанабе Х. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 1999
Представлены результаты сравнительного исследования оптического поглощения и фотолюминесценции в слоях пористого кремния, оксидах кремния (SiO и SiO2) и порошкообразном кремнии. Обнаружена корреляция положения края полосы поглощения, определяемого по данным фотоакустической спектроскопии, а также спектров фотолюминесценции со степенью окисления кремния. Для образцов пористого кремния выявлено различие частотных зависимостей фотоакустического сигнала от энергии квантов возбуждающего света.
79.

Динамика изменения спектров фотолюминесценции образцов CdTe стехиометрического состава в зависимости от чистоты исходных компонентов     

Квит А.В., Клевков Ю.В., Медведев С.А., Багаев В.С., Пересторонин А., Плотников А.Ф. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2000
Представлен новый сублимационный метод очистки веществ в вакууме, основанный на фазовом превращении кристалл--пар--кристалл. Приведена принципиальная конструкция ростового реактора и основные параметры глубокой очистки соединения CdTe. С помощью низкотемпературной фотолюминесценции показана динамика очистки, характеризующаяся полным распадом различных комплексов и резким уменьшением концентрации как мелких, так и глубоких остаточных примесей. На финишном этапе очистки получен поликристаллический CdTe состава, близкого к стехиометрическому, в спектре фотолюминесценции которого полностью отсутствует примесное излучение и остается только экситонная часть. Экспериментально подтверждена необходимость глубокой очистки исходных компонент. Аналогичные результаты получены для ZnTe и ZnSe.
80.

Исследование изменения химического состава поверхности образцов CdxHg1-xTe приобработке вактивированных высокочастотным разрядом газах N2O иH2     

Васильев В.В., Захарьяш Т.И., Кеслер В.Г., Парм И.О., Соловьев А.П. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2001
Исследовано изменение химического состава поверхности CdxHg1-xTe при обработке атомарными пучками кислорода и водорода, полученными методом электронного удара в высокочастотной плазме N2O иH2. Показано, что последовательное воздействие пучков атомарного кислорода и водорода приводит к удалению с поверхности образцов углеродосодержащих соединений, слоя собственного оксида и теллура в элементном состоянии.