Изучены спектры поглощения и фотолюминесценции, микротвердость, а также проведен рентгеноструктурный анализ кристаллов LiF, облученных гамма-излучением в остановленном реакторе и в источнике 60Co с мощностью дозы гамма-излучения 7.65 Gy/s. Кроме образования точечных и комплексных радиационны...
Изучены спектры поглощения и фотолюминесценции, микротвердость, а также проведен рентгеноструктурный анализ кристаллов LiF, облученных гамма-излучением в остановленном реакторе и в источнике 60Co с мощностью дозы гамма-излучения 7.65 Gy/s. Кроме образования точечных и комплексных радиационных дефектов в подрешетке Li обнаружены индуцированные гамма-облучением наночастицы фазы LiOH размером 28 nm. Показано, что образование дефектов происходит более эффективно в остановленном реакторе, чем в источнике 60Co. Работа выполнена по гранту ФПФИ АН РУ N 4-04. PACS: 61.66.Fn, 61.80.Ed, 78.55.Fv
Муссаева М.А., Ибрагимова Э.М., Каланов М.У., Муминов М.И. Образование нанодефектов вкристаллах LiF при гамма-облучении // ФТТ, 2006, том 48, выпуск 12, Стр. 2170