Методом ИК-отражения в средней и дальней ИК-областях исследованы оптические свойства близких по составу квазикристаллических и для сравнения кристаллических пленок системы Al--Cu--Fe. Исследовались пленки толщиной 0.1-0.3 mum на сапфировых подложках. По экспериментальным данным рассчитана комплек...
Методом ИК-отражения в средней и дальней ИК-областях исследованы оптические свойства близких по составу квазикристаллических и для сравнения кристаллических пленок системы Al--Cu--Fe. Исследовались пленки толщиной 0.1-0.3 mum на сапфировых подложках. По экспериментальным данным рассчитана комплексная диэлектрическая проницаемость пленок. Обнаружено, что если для кристаллических пленок действительная часть диэлектрической проницаемости отрицательна, то для квазикристаллических пленок она положительна и слабо зависит от частоты, за исключением области вблизи 245 cm-1. Оптическая проводимость квазикристаллических пленок характеризуется отсутствием пика Друде, имеющегося в кристаллических пленках, и наличием пика при 245 cm-1, связанного, по-видимому, с возбуждением оптических фононов и отсутствующего в кристаллических пленках. Работа выполнена в рамках государственного контракта N 02.434.11.2011. PACS: 78.20.Ci, 78.66.Bz
Яковлев В.А., Новикова Н.Н., Матеи Дж., Теплов А.А., Шайтура Д.С., Назин В.Г., Ласкова Г.В., Ольшанский Е.Д., Долгий Д.И. Спектры отражения иоптические постоянные тонких квазикристаллических пленок Al--Cu--Fe винфракрасной области // ФТТ, 2006, том 48, выпуск 5, Стр. 775