Найдено научных статей и публикаций: 195
71.
Структура центров и механизмы высокотемпературного голубого излучения селенида цинка
Изучены особенности температурного гашения интенсивности полос краевого излучения кристаллов n-ZnSe, отожженных в различных средах (вакуум, Zn, Se) в широком интервале температур. Обнаружена смена механизмов высокотемпературной экситонной люминесценции в коротковолновой области спектра (443 нм) с ростом температуры кристалла. Показано, что характер температурного гашения длинноволновой полосы краевого излучения (458 нм) свидетельствует о диссоциации ассоциативных центров свечения с ростом температуры образца.
72.
Слабая локализация вквантовых ямах p-типа
Теория слабой локализации, приводящей к аномальному магнетосопротивлению, развита для квантовых гетероструктур с сильным спин-орбитальным взаимодействием. Рассмотрены реальные квантовые ямы с несколькими заполненными подзонами размерного квантования. Показано, что при интенсивных упругих переходах между ними происходит эффективное усреднение параметров, определяющих проводимость в классически слабых магнитных полях. В другом предельном случае все подзоны дают независимые вклады в аномальное магнетосопротивление. Вычислены соответствующие характерные магнитные поля при произвольном соотношении между временами сбоя фазы и межподзонных переходов.
73.
Проводимость тонких нанокристаллических пленок кремния
Показано, что тонкие (200--250 Angstrem) гидрогенизированные нанокристаллические пленки кремния обладают низкой продольной проводимостью, сравнимой с проводимостью нелегированного аморфного кремния, и высокой поперечной проводимостью. Такие пленки могут быть использованы в качестве легированных слоев при создании барьерных структур с малым поверхностным растеканием тока. Установлено, что проводимость пленок уменьшается на 8--10порядков в направлении вдоль слоя при изменении толщины от 1500 до 200 Angstrem. Наблюдаемые зависимости проводимости от толщины интерпретированы в рамках теории протекания разрушением перколяционного кластера из нанокристаллитов при уменьшении толщины слоя.
74.
Влияние термического отжига на интенсивность полосы фотолюминесценции 1.54 мкм в легированном эрбием гидрогенизированном аморфном кремнии
Легированные эрбием пленки a-Si : H получены магнетронным распылением мишени Si--Er при температуре осаждения 200oC. Затем проведен кумулятивный термический отжиг. После отжига при 300oC в течение 15 мин в атмосфере азота обнаружено резкое возрастание (в ~50раз) интенсивности фотолюминесценции на длине волны 1.54 мкм. При температуре отжига <=500oC сигнал фотолюминесценции спадал практически до нуля. Влияние процессов термического отжига обсуждается в рамках модели частичной перестройки структурной сетки аморфных пленок a-Si(Er) : H.
75.
Фотонные кристаллы сперестрaиваемой запрещенной зоной наоснове заполненных иинвертированных композитов опал--кремний
Выполнены синтез и структурный анализ трехмерных композитов опал--кремний как с прямой (сразными степенями заполнения пор опала кремнием), так и инвертированной структурой. Вдиапазоне длин волн400-900 нм измерены спектры зеркального отражения света от ростовых поверхностей(111) синтезированных композитов. Наблюдаемые спектральные особенности изучены теоретически и интерпретированы как проявление фотонной запрещенной зоны в направлении[111], перестрaиваемой по положению и ширине в видимом и ближнем инфракрасном спектральном диапазоне.
76.
Микрорезонаторы Фабри--Перо наоснове a-Si : H/a-SiOx : H сактивным слоем излегированного эрбием гидрогенизированного аморфного кремния
Методом плазмохимического газофазного осаждения изготовлены микрорезонаторы Фабри--Перо на длину волны 1.5 мкм на основе a-Si : H и a-SiOx : H. Распределенные брэгговские отражатели и активный слой выращены в едином технологическом цикле. Активный полуволновый слой легирован эрбием в процессе роста с помощью металлорганического соединения. За счет высокого оптического контраста достигнута большая добротность микрорезонатора (Q=355) при 3периодах в распределенных брэгговских отражателях. При этом интенсивность фотолюминесценции эрбия из микрорезонатора оказывается на 2порядка выше по сравнению с интенсивностью излучения эрбия из идентичного слоя a-Si : H без распределенных брэгговских отражателей. Проанализированы спектры пропускания, отражения и фотолюминесценции. Установлено, что спектральная форма линии фотолюминесценции эрбия (переход 4I13/2-> 4I15/2) из микрорезонатора практически совпадает с формой резонансного пика его спектра пропускания. Выполнены теоретические расчеты, позволившие полностью описать наблюдаемые экспериментальные спектры.
77.
Магнитные свойства сплавов Pb1-xGexTe, легированных иттербием
Исследованы температурные зависимости магнитной восприимчивости и полевые зависимости намагниченности сплавов Pb1-x-yGexYbyTe (0=<q x=<q 0.02, y=<q 0.065). Обнаружено, что при понижении температуры диамагнитный отклик сменяется кюри-вейссовским парамагнитным, указывающим на присутствие в сплавах магнитных ионовYb3+(4f13). Полученные результаты использованы для определения концентрации магнитных ионов и степени заполнения примесной зоны иттербия в исследованных сплавах.
78.
Структурные и фотонные свойства нанокомпозитов опал--GaN
Электронно-микроскопическими методами показано, что синтезированный в порах опала нитрид галлия имеет совершенную кристаллическую структуру. Из исследований спектров отражения установлено, что полученные нанокомпозиты опал--<нитрид галлия> сохраняют фотонно-кристаллические свойства исходной упорядоченной матрицы опала при любой(0-100%) степени заполнения пор опала нитридом галлия.
79.
Получение алмазных пленок накристаллическом кремнии методом термического газофазного осаждения
Представлены результаты исследования влияния параметров процесса термического газофазного осаждения на фазовый состав алмазных пленок, выращенных на кремниевой подложке. Найден режим роста, отвечающий наибольшему содержанию в пленках алмазной фазы при скорости роста~ 1 мкм/ч.
80.
Начальные стадии роста островковых алмазных пленок накристаллическом кремнии
Представлены результаты исследования начальных стадий роста островковых алмазных пленок, полученных методом термического газофазного осаждения (hotfilamentCVD) на оптически полированном кристаллическом кремнии. Методом атомно-силовой микроскопии изучена эволюция островков, образовавшихся на начальных стадиях роста пленки, в процессе их отжига. Установлено, что на начальных стадиях роста изменение плотности островков происходит за счет коалесценции близко расположенных островков. Затем, при достижении островками критического размера, начинается оствальдовское созревание островков.