Employing the dynamic crossed-beams technique, absolute cross section for the electron-impact multiply-ionization and fragmentation of mass-selected negatively-charged fullerene ions C-m-> Cq+m-n (m=60, 70, 84; q=1, 2, 3; n=0, 2, 4) have been measured. The electron energy shans from the respective threshold up to 1 keV. A scaling law has been observed for the magnitude of the cross sections that is a function of the fullerene size m and the charge state q of the product ion. The data indicate that different mechanisms account for the detachment of the extra electron from the negatively-charged fullerene and the formation of a positively-charged ion, respectively. Moreover, the multiple-ionization of a fullerene anion is found to be a sequential process. A novel ionization mechanism is proposed which can be expected to be valid for all negatively-charged molecular or cluster ions which are able to shield the attached electron from the incident electron. Suppport by Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) is gratefully acknosledged. P.S. thanks the Austrian Academy of Sciences for his APART-fellowship.
Hathiramani D., Scheier P., Salzborn E. Recent results on multiple-ionization and fragmentation ofnegatively-charged fullerene ions byelectron impact // ФТТ, 2002, том 44, выпуск 3, Стр. 488

Впервые измерены дифференциальные по углу рассеяния налетающей частицы сечения различных элементарных процессов, сопровождающих захват электронов у молекулы фуллерена ионами H+ и He2+ keV-энергий. Оценка параметра удара по углу рассеяния иона при поляризационном взаимодействии с молекулой фуллерена показывает, что процессы захвата, захвата с дополнительной ионизацией и фрагментацией фуллеренов происходят преимущественно при параметрах удара, значительно превышающих радиус фуллерена. Работа поддержана Российской исследовательской программой "Фуллерены и атомные кластеры: создание физико-химических основ материаловедения углеродных кластеров".
Афросимов В.В., Басалаев А.А., Кашников К.В., Панов М.Н. Ионизация ифрагментация фуллеренов встолкновениях сионами приразличных параметрах удара // ФТТ, 2002, том 44, выпуск 3, Стр. 486

Методом расcеяния ионов средних энергий (РИСЭ) исследованы пленки фуллеренов и их соединений с галогенами, осажденные на слюду и кремний. Определены неоднородности толщины пленок. Обнаружено значительное повышение концентрации галогенов в области интерфейса, связанное с условиями осаждения пленок. Показана возможность определения методом РИСЭ состава отдельных слоев пленки. Работа выполнена при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант N 99-02-18170) и государственной научно-технической программы "Фуллерены и атомные кластеры" (проект "Пленка").
Афросимов В.В., Захарова И.Б., Ильин Р.Н., Макарова Т.Л., Сахаров В.И., Серенков И.Т. Исследование интеркалированных фуллереновых пленок методом рассеяния ионов средних энергий // ФТТ, 2002, том 44, выпуск 3, Стр. 481

Представлены результаты измерений ИК-спектров и спектральных зависимостей коэффициента экстинкции в диапазоне 1.2--4.2 eV для пленок C60Brx в сравнении с чистыми пленками C60. Модификация электронного спектра вблизи края поглощения связана с различной структурой пленок и подавлением экситона с переносом заряда. В пленках C60Brx возникает дополнительное поглощение ниже фундаментального порога поглощения C60. Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант 99-02-18170).
Макарова Т.Л., Захарова И.Б. Анализ спектральных особенностей оптических констант фуллереновых игалогенофуллереновых пленок вблизи края поглощения // ФТТ, 2002, том 44, выпуск 3, Стр. 478

Исследован электродинамический отклик электронного газа, находящегося на поверхности наносферы в слабом магнитном поле. Изучался случай, когда вектор поляризации фотонов параллелен магнитному полю (геометрия Фарадея). Найдено аналитическое выражение для коэффициента поглощения электромагнитного излучения наносферой. Показано, что при низкой температуре, в общем случае на кривой поглощения имеются два резонансных пика. Кроме того, на кривой поглощения возникают изломы. Работа поддержана грантами Российского фонда фундаментальных исследований (N 01-02-16564), DFG (N 436 RUS 113/572) и программы "Университеты России" (N 015.01.01.049).
Булаев Д.В., Гейлер В.А., Маргулис В.А. Электродинамический отклик наносферы // ФТТ, 2002, том 44, выпуск 3, Стр. 471

В последнее время большое внимание уделяется исследованию электронно-энергетической структуры однослойных углеродных нанотрубок, модифицированных различными способами. Выясняется, что свойства тубуленов могут изменяться в зависимости от способа модифицирования или допирования, выбора внедряемого или адсорбируемого элемента, способа воздействия. Представлены результаты расчетов адсорбции атомарных кислорода и фтора на поверхности однослойных углеродных трубок типа arm-chair и zig-zag, обладающих цилиндрической симметрией. Расчеты выполнены на основе модели молекулярного кластера и ионно-встроенного ковалентно-циклического кластера с использованием наиболее современной квантово-механической полуэмпирической схемы MNDO. Исследованы электронно-энергетические характеристики процессов оксидирования и фторирования, определена наиболее выгодная с энергетической точки зрения оксидная структура трубки (6, 6), обнаружена тенденция к металлическому поведению узкощелевых тубуленов по мере насыщения их поверхности атомами кислорода.
Запороцкова И.В., Лебедев Н.Г., Чернозатонский Л.А. Исследование процессов оксидирования ифторирования однослойных углеродных нанотрубок вприближении MNDO // ФТТ, 2002, том 44, выпуск 3, Стр. 464

Использование эффекта Зинера в качестве критерия обнаружения кристаллита на эмиссионной поверхности автокатода позволило идентифицировать кристаллическую фазу углеграфитового эмиттера и наблюдать явления интерпретированные как самопроизвольная и термополевая перестройка эмитирующего углеродного нанокристаллита.
Лобанов В.М., Юмагузин Ю.М., Бахтизин Р.З. Эмиссионные свойства углеродного нанокристаллита // ФТТ, 2002, том 44, выпуск 3, Стр. 462

Проведено сравнительное исследование методов очистки одностенных углеродных нанотрубок (ОУНТ), полученных электродуговым синтезом. Методы очистки включали: окисление исходного материала на воздухе при различных температурах, обработку и/или окисление растворами неорганических кислот, микрофильтрацию суспензии исходного и/или окисленного материала, а также различные комбинации этих методов. Чистота полученных ОУНТ характеризовалась методом спектроскопии комбинационного рассеяния. Показано, что наилучшие результаты дает метод очистки, включающий следующие последовательные стадии: обработка и окисление исходного материала в азотной кислоте, микрофильтрация суспензии окисленного материала в водном растворе поверхностно-активных веществ через трековые мембраны, сушка, окисление на воздухе и отжиг в вакууме при различных температурах. Чистота полученных ОУНТ достигала 70--80 wt.%. Работа выполнена при поддержке РФФИ (проекты N 00-03-32086, 01-02-17358), МНТЦ-1400, ГНТП "Фуллерены и атомные кластеры" и ИНТАС.
Лобач А.С., Спицына Н.Г., Терехов С.В., Образцова Е.Д. Сравнительное изучение различных способов очистки одностенных углеродных нанотрубок // ФТТ, 2002, том 44, выпуск 3, Стр. 457

Методом дифракции быстрых электронов проведены исследования каталитических частиц никеля на концах углеродных нанотрубок, выращенных в различных физико-химических условиях. Измерением периодов кристаллической решетки установлено, что наночастицы являются пересыщенным твердым раствором углерода в никеле с необычно высоким содержанием углерода. Работа поддержана Российским фондом фундаментальных исследований (грант N 01-03-32272) и программой "Фуллерены и атомные кластеры" МН РФ (грант N 5-2-98).
Гурьянова О.М., Куковицкий Е.Ф., Львов С.Г., Саинов Н.А., Шустов В.А. Электронная дифракция вершинных каталитических частиц вуглеродных нанотрубках // ФТТ, 2002, том 44, выпуск 3, Стр. 455

Using empirical-potential and tight-binding models, we study the structure and stability of atomic-scale irradiation-induced defects on walls of carbon nanotubes. We model the temporal evolution of the defects and calculate their lifetimes at various temperatures. We further simulate scanning-tunneling microscopy (STM) images of irradiated nanotubes with the defects. Our simulations indicate that at low temperatures, the defects live long enough to be detected by STM and that different defects manifest themselves in STM images in different ways, which allows to distinguish the defects experimentally. The research was supported by the Academy of Finland under project Nos. 44215 and 73722.
Krasheninnikov A.V., Nordlund K. Signatures of irradiation-induced defects in scanning-tunneling microscopy images of carbon nanotubes // ФТТ, 2002, том 44, выпуск 3, Стр. 452