Найдено научных статей и публикаций: 153
71.
Идеальный статический пробой в высоковольтных(1 кВ) диодных p-n-структурах сохранными кольцами наоснове 4H-SiC
Продемонстрирован практически идеальный статический высоковольтный пробой(1060 В) вp+-n-n+-диодах с охранными кольцами на основе4H-SiC. При легировании n-базы до уровня 1.9· 1016 см-3 напряженность поля пробоя в диоде составляет 2.7·106 В/см. Ток утечки диодов не превышает 5·10-5 А/см2 при обратном напряжении до1000 В. Диоды выдерживают без деструкции лавинный ток1 А/см2, что соответствует рассеиваемой мощности1 кВт/см2.
72.
Разработка интерактивной гипертекстовой системы исследования структурных схем физических установок
Филатов О.п., Железин А.а., Кольцов И.м. Разработка интерактивной гипертекстовой системы исследования структурных схем физических установок // Научная сессия МИФИ-1998. Т.8 Конференция студентов и молодых ученых. Физические науки, стр. 161-163
73.
Микропроцессорная система управления длиной волны излучения лазера для экологии
Ивашкина Н.в., Кольцов И.м. Микропроцессорная система управления длиной волны излучения лазера для экологии // Научная сессия МИФИ-1998. Т.10 Конференция студентов и молодых ученых. Автоматика. Электроника, стр. 35-37
74.
Возможный поляриметр на базе инклюзивных нейтральных пионов для поляризованного протонного кольца гера
Андреева Е.а., Богданов А.а., Коротков В.а., Новак В.д., Нурушев С.б., Стриханов М.н., Шестерманов К.е., Васильев А.н. Возможный поляриметр на базе инклюзивных нейтральных пионов для поляризованного протонного кольца ГЕРА // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.3 Ядерная физика. Физика ускорителей заряженных частиц. Физика плазмы, стр. 56-58
75.
Автоматизация лазерных систем для физических экспериментов
Кольцов И.м. Автоматизация лазерных систем для физических экспериментов // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника, стр. 102-103
76.
Обработка данных в системе измерения и анализа спектра излучения перестраиваемого лазера
Кольцов И.м., Комаров А.а. Обработка данных в системе измерения и анализа спектра излучения перестраиваемого лазера // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника, стр. 106-108
77.
Инструментальная библиотека для создания программной части цифровых САУ на основе технологии Java
Усачев Д.в., Кольцов И.м. Инструментальная библиотека для создания программной части цифровых САУ на основе технологии Java // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника, стр. 137-138
78.
Система обработки параметров светового излучения на основе пзс-датчика и однокристального микропроцессора
Железин А.а., Кольцов И.м. Система обработки параметров светового излучения на основе ПЗС-датчика и однокристального микропроцессора // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника, стр. 104-106
79.
Компьютерные технологии. программно-аппаратные средства современных исследований на основе эвм
Железин А.а., Ивашкина Н.в., Комаров А.а., Кольцов И.м., Рыбин В.м. Компьютерные технологии. Программно-аппаратные средства современных исследований на основе ЭВМ // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника, стр. 110-112
80.
Макет микропроцессорной сау параметрами физических установок
Егоров К.в., Железин А.а., Кольцов И.м. Макет микропроцессорной САУ параметрами физических установок // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника, стр. 129-130