Найдено научных статей и публикаций: 911   
191.

Исследование проводимости металлов вблизи критической точки с помощью электрического взрыва микропроводников в воде     

Орешкин В.И., Бакшт Р.Б., Лабецкий А.Ю., Русских А.Г., Шишлов А.В., Левашов П.Р., Хищенко К.В., Глазырин И.В. - Журнал Технической Физики , 2004
Экспериментально и численно исследуется электрический взрыв алюминиевых и вольфрамовых микропроводников в воде. В экспериментах диапазон изменения токов через проводник составлял 0.1-1 kA при временах взрыва 40-300 ns и плотности тока через проводник до 1.5· 108 A/cm2. Для интерпретации экспериментальных результатов с помощью магнитогидродинамического моделирования использовались различные модели проводимости металла. На основе сравнения результатов экспериментов и численных расчетов делается заключение об адекватности используемых моделей проводимости металлов.
192.

Исследование распыления шунгитов с помощью дугового разряда     

Алешина Л.А., Подгорный В.И., Стефанович Г.Б., Фофанов А.Д. - Журнал Технической Физики , 2004
Показана возможность модификации структуры шунгитов за счет обработки их в дуговом разряде в среде инертного газа. Обнаружено, что непосредственное воздействие дуги проводит к локальному превращению части материала шунгита в графит ромбоэдрической модификации. Проведены измерения спектральной зависимости оптического пропускания растворов саж графита и шунгита в толуоле. На рентгенограммах сажей шунгита и графита в области малых углов рассеяния обнаружен широкий максимум, указывающий на присутствие в них молекул фуллеренов.
193.

Исследование микрорельефа обработанных поверхностей с помощью методов фрактальных сигнатур     

Потапов А.А., Булавкин В.В., Герман В.А., Вячеславова О.Ф. - Журнал Технической Физики , 2005
Рассмотрен новый подход к исследованию свойств микрорельефа конструкционных материалов, основанный на понятии фрактальных сигнатур. Данный подход был специально разработан и успешно апробирован при решении радиофизических задач обнаружения малоконтрастных целей. В основе метода заложены идеи теории фракталов, а в качестве оценочного параметра используются фрактальные сигнатуры и фрактальные размерности D, тесно связанные не только с топологией объектов, но и с процессами эволюции динамических систем. С помощью полученных экспериментальных результатов доказано существование на уровне микрорельефа обработанной поверхности фрактальных кластеров и определены их количественные характеристики.
194.

Обнаружение контрастных образований внутри биологических сред при помощи ближнепольной СВЧ диагностики     

Резник А.Н., Юрасова Н.В. - Журнал Технической Физики , 2006
На основе теоретических и экспериментальных исследований продемонстрированы возможности применения ближнепольной локации (БПЛ) СВЧ диапазона для обнаружения злокачественной опухоли внутри биологической ткани. Теоретический анализ выполнен при помощи развитой теории БПЛ плоскослоистых сред. Экспериментальная проверка теории осуществлена в условиях зондирования водной среды с контролируемой диэлектрической проницаемостью. Произведены расчеты регистрируемых контрастов опухоли, основанные на модельных представлениях о диэлектрических свойствах здоровых и пораженных тканей человека. Экспериментально исследованы природа и уровень фоновых контрастов, сопутствующих ближнепольным измерениям. Предложена оптимальная измерительная схема, позволяющая снизить маскирующее влияние фоновых контрастов. Получены двумерные изображения контрастного объекта, моделирующего опухоль, в зависимости от глубины его погружения в водную среду. Изучены перспективы применения БПЛ для диагностики подповерхностной температуры. PACS: 61.66.Hq, 52.80.Pi
195.

Моделирование фликкер-шума с помощью дробного интегро-дифференцирования     

Рехвиашвили С.Ш. - Журнал Технической Физики , 2006
В работе найдена связь между спектральной плотностью мощности фликкер-шума и дробной производной Римана-Лиувилля. Показано, что системы со спектром фликкер-типа могут \glqq вычислять\grqq дробную производную от случайного стационарного процесса. Полученные результаты предложено использовать для моделирования фликкер-шума в электронных схемах. Метод реализован с помощью программы схемотехнического моделирования PSpice. PACS: 05.40.Ca
196.

Наблюдение самоорганизации поверхности кристаллов вольфрама при термодиффузии атомов с помощью метода сканирующей туннельной микроскопии     

Витухин В.Ю., Закурдаев И.В. - Журнал "Физика Твердого Тела" , 1997
С использованием метода сканирующей туннельной микроскопии исследована начальная стадия фасетирования вицинальной грани (110) вольфрама при отжиге кристалла в условиях, близких к термодинамическому равновесию, и термодиффузионного массопереноса. В первом случае исходные нанофасетки (следы электрохимической полировки) с частотой следования q=(3-4)·105 cm-1 объединяются, образуя микроступени с выраженной огранкой. Во втором случае на фоне сохраняющихся нанофасеток образуется волноподобная в виде синусоидального гофра структура. Частота гофрировки хорошо совпадает с теоретически рассчитанной на основе модели поверхностного массопереноса.
197.

Сравнительное изучение с помощью просвечивающей электронной микроскопии трехмерной решетки из нанокластеров теллура, полученной различными способами в опаловой матрице     

Богомолов В.Н., Сорокин Л.М., Курдюков Д.А., Павлова Т.М., Хатчисон Дж. - Журнал "Физика Твердого Тела" , 1997
Проведено электронно-микроскопическое изучение синтетических опалов, в регулярно расположенные пустоты которых введен теллур либо из расплава под давлением, либо из раствора. В первом случае выявлена трехмерная решетка из связанных друг с другом через мостики кластеров теллура. При переходе от одного к другому они сохраняют одну и ту же кристаллографическую ориентацию. Эти данные свидетельствуют о том, что при охлаждении объекта после введения теллура происходит его направленная кристаллизация, которая контролируется, возможно, каналами между кластерами. При втором способе введения теллура образуется неоднородная кластерная решетка: объемные кластеры вырастают не во всех пустотах. Поверхность большинства силикатных сфер покрыта тонким несплошным слоем теллура. Такая структура кластерной решетки обеспечивает нелинейную вольт-амперную характеристику объекта в целом. Продемонстрирована принципиальная возможность инженерии кластерных решеток, отличающихся структурными параметрами.
198.

Исследование микромагнетизма и перемагничивания наночастиц Ni с помощью магнитного силового микроскопа     

Бухараев А.А., Овчинников Д.В., Нургазизов Н.И., Куковицкий Е.Ф., Кляйбер М., Вейзендангер Р. - Журнал "Физика Твердого Тела" , 1998
Изолированные наночастицы Ni исследовались методами атомно- и магнитно-силовой микроскопии in-situ при наличии дополнительного внешнего поля величиной до 300 Oe. Путем сравнения соответствующих топографических и магнитных изображений, а также с помощью компьютерного моделирования магнитных изображений было установлено, что частицы размером менее 100 nm являются однодоменными и легко перемагничиваются вдоль направления приложенного внешнего магнитного поля. У более крупных частиц внешнее магнитное поле повышает однородность намагничивания; направление суммарной намагниченности таких частиц определяется анизотропией их формы. Особенности магнитных изображений и перемагничивания частиц размером более 150 nm связываются с формированием в них вихревой структуры намагниченности.
199.

Определение параметра решетки и одноэлектронного модельного потенциала соединения CdS с помощью спектров поглощения мягкого рентгеновского излучения     

Мигаль Ю.Ф., Лаврентьев А.А., Габрельян Б.В., Никифоров И.Я. - Журнал "Физика Твердого Тела" , 1998
Схема определения параметров структуры многоатомных систем с использованием спектров мягкого рентгеновского излучения (XANES), предложенная ранее, расширена на случай неметаллических кристаллических тел. С ее помощью по положениям максимумов одноэлектронного происхождения в K-спектре серы в соединении CdS определены параметр решетки и эмпирический muffin-tin-потенциал.
200.

Исследование системы мезоскопических гранул при помощи модели квантовых косинусов     

Верзаков С.А., Лозовик Ю.Е. - Журнал "Физика Твердого Тела" , 2000
Методом среднего поля и при помощи отображения на классическую XY-модель исследуется система малых сверхпроводящих гранул на проводящей подложке. Используемая модель "квантовых косинусов" не содержит некорректного оператора фазы. Проводится сравнение с результатами квантового моделирования. Работа была частично поддержана РФФИ.