Найдено научных статей и публикаций: 63   
11.

Контрразведка а.в.колчака: организация и освещение политических настроений населения и войск     

Е.А.Корнева - Журнал "Новый исторический вестник" , 2000
Е.А.Корнева, Контрразведка А.В.Колчака: организация и освещение политических настроений населения и войск // Журнал "Новый исторический вестник", № 1, 2000, http://www.nivestnik.ru/
12.

Лазерно-индуцированный перенос атомов из области освещения в газах     

Бонч-Бруевич А.М., Вартанян Т.А., Пржибельский С.Г., Хромов В.В. - Журнал Технической Физики , 1998
Предсказан новый световой эффект в процессах переноса атомов в плотных газах, капиллярах и пористых средах. Основу эффекта составляют удары второго рода возбужденных атомов, вызывающие термодиффузионные процессы. На базе модельные представлений сделаны оценки величины эффектов в условиях отсутствия потоков и при их наличии в капиллярных системах. Показано, что при определенных предположениях о специфике ударов второго рода атомов о стенки световое действие изменяет пропускание капилляра.
13.

Эффекты ограничения заряда эмиссии фотокатодов при неоднородном освещении     

Резников Б.И., Субашиев А.В. - Журнал Технической Физики , 2002
Теоретически исследована фотоэмиссия из полупроводника с отрицательным электронным сродством для неравномерного распределения интенсивности света на освещаемой поверхности при стационарном и импульсном возбуждении. Показано, что максимальное значение тока эмиссии экспоненциально возрастает с увеличением отношения отрицательного электронного сродства Delta0 к характерной энергии туннелирования E0, и найдена интенсивность возбуждения Iopt, соответствующая максимальному току. Неравномерность возбуждения приводит к ослаблению зависимости тока эмиссии от интенсивности вблизи его максимального значения. Время восстановления квантовой эффективности, измеряемое при двухимпульсном возбуждении, слабо зависит от интенсивности и неравномерности распределения интенсивности в пятне и близко ко времени релаксации малых фотонапряжений.
14.

Влияние времени освещения на отжиг созданных светом метастабильных дефектов в a-Si : H p-типа     

Казанский А.Г. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 1997
В области температур 360--400 K исследовано влияние времени освещения на релаксацию концентрации созданных светом метастабильных дефектов в легированных бором пленках a-Si : H. Релаксация концентрации происходила по растянутой экспоненте (~exp(-(t/taur)beta)). В области исследованных температур и времен освещения (0.1--7.0 с) коэффициент beta=0.55-0.65, а энергия активации Ea температурной зависимости эффективного времени taur составляла 0.97--1.07 эВ. С ростом освещения наблюдалось слабое увеличение Ea и beta. Величина taur возрастала при увеличении времени освещения в соответствии с зависимостью, близкой к логарифмической. Проведено сопоставление полученных экспериментальных результатов с существующими микроскопическими моделями образования и отжига метастабильных дефектов в пленках a-Si : H.
15.

Фотоэлектрические и радиационные характеристики кремниевых солнечных элементов приповышенных освещенностях итемпературах     

Бакиров М.Я. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 1997
Экспериментально установлено, что при использовании концентрированного солнечного излучения увеличивается мощность элемента и уменьшается скорость радиационной деградации параметров. В неохлаждаемых элементах температура возрастает выше 100oC, а кпд падает.
16.

Релаксация созданного освещением метастабильного состояния a-Si : H p-типа, легированного бором     

Казанский А.Г., Ларина Э.В. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 1998
Исследована релаксация темновой проводимости пленок a-Si : H, легированных бором, после их освещения в интервале температур 360-470 K. Показано, что выбор условий освещения пленок (времени освещения и температуры) позволяет на основании изучения релаксации проводимости независимо исследовать релаксацию концентрации созданных светом метастабильных дефектов типа оборванных связей и релаксацию концентрации метастабильных состояний, связанных с примесными атомами. Как в первом, так и во втором случае релаксация происходит по закону растянутой экспоненты. Определены основные параметры, характеризующие релаксацию, и их температурные зависимости. Полученные результаты интерпретируются в рамках модели распределения энергий отжига, созданных светом метастабильных состояний.
17.

Индентификация параметров примесных уровней ввысокоомных полупроводниковых кристаллах спомощью термостимулированных токов придозированном освещении образцов     

Кашерининов П.Г., Матюхин Д.Г. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 1998
Предложен метод идентификации параметров примесных уровней в высокоомных (изолирующих) полупроводниковых кристаллах, позволяющий с помощью термостимулированных токов при дозированном освещении образцов, определять одновременно глубину залегания примесных уровней в запрещенной зоне кристалла (Delta E) и устанавливать, от края какой из разрешенных зон следует отсчитывать найденную глубину залегания уровней, что не позволило широко распространненный обычный метод термостимулированных токов.
18.

Влияние направления освещения нараспределение поля ввысокоомных структурах металл--полупроводник     

Резников Б.И. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2001
Изучена зависимость распределения поля от интенсивности освещения в сильно смещенной высокоомной структуре металл--полупроводник, освещаемой собственным монохроматическим светом. Выявлены различия в распределении поля при освещении со стороны анода и катода, обусловленные в толще разностью подвижностей фотоносителей, а вблизи освещаемой поверхности--- различным направлением диффузионного и дрейфового потоков для более подвижных электронов. Показано, что при освещении со стороны катода распределение поля в толще не монотонно. Оно убывает в тонком слое с удалением от освещаемого катода, проходит через минимум и растет в направлении к аноду. Сувеличением интенсивности освещения квазинейтральная область в окрестности минимума поля расширяется в направлении к аноду и минимальное поле убывает, в то время как поле у освещаемого катода при малых интенсивностях уменьшается, а при больших интенсивностях растет. При достаточно больших интенсивностях освещения координатная зависимость поля в толще чистых кристаллов как функция расстояния от освещаемого электрода не зависит от направления освещения.
19.

Динамический хаос вчастично освещенном компенсированном полупроводнике вусловиях примесного электрического пробоя     

Джандиери К.М., Качлишвили З.С., Строганов А.Б. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2005
Рассчитана нелинейная динамика компенсированного полупроводника при примесном электрическом пробое в классически сильном магнитном поле в режиме закороченных контактов Холла и воздействии резонансного облучения, частота которого соответствует энергии ионизации водородоподобных донорных примесей. Врезультате получены как регулярные, так и хаотические автоколебания; причем для соответствующих значений бифуркационных параметров реализуются все три сценария возникновения хаоса. Полученные результаты могут стать теоретической основой функционирования легкоуправляемого высокочастотного генератора, режимы работы которого (включение, переход от регулярного режима в хаотический и наоборот) можно менять посредством изменения интенсивности подсветки.
20.

Свойства структур на основе окисленного пористого кремния привоздействии освещения и газовых сред     

Биленко Д.И., Белобровая О.Я., Жаркова Э.А., Терин Д.В., Хасина Е.И. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2005
Исследовано влияние освещения и адсорбции полярных молекул на свойства структур на основе окисленного пористого кремния. Особенностями изученных структур являются колебания и смена знака напряжения холостого хода при длительном фотовозбуждении; нестабильности тока во времени в среде свысоким содержанием сероводорода; большие времена спада фототока после снятия освещения; уменьшение фототока по сравнению с темновым в структурах с токами, ограниченными пространственным зарядом. Полученные результаты объясняются наличием многозарядных ловушек различного типа в окисленном пористом кремнии, их перезарядкой и туннелированием носителей заряда между кремниевыми нанокристаллами.