Найдено научных статей и публикаций: 2310   
1.

Уральский центр нейтронной терапии - результаты работы, перспективы     

А.В. Важенин, Г.Н. Рыкованов, Э.П.Магда, З.З.Мунасипов, Г.В.Мокичев, А.С.Доможирова - Известия Челябинского научного центра , 2004
А.В. Важенин, Г.Н. Рыкованов, Э.П.Магда, З.З.Мунасипов, Г.В.Мокичев, А.С.Доможирова . Уральский центр нейтронной терапии - результаты работы, перспективы. Известия Челябинского научного центра, http://www.csc.ac.ru/news/, Специальный выпуск к 60-летию РАМН, 2004
2.

Создание дизайн-центра научно-технического творчества «электроника для современных физических экспериментов» в составе ноц rec-011     

Аткин Э.в., Богданович Б.ю., Симаков А.б. - Научная сессия МИФИ-2006. Научно-образовательный центр CRDF. 4 Конференция. Фундаментальные исследования материи в экстремальных состояниях. , 2006
Показаны результаты создания в структуре научно-образовательного центра (НОЦ CRDF REC-011) «Фундаментальные исследования материи в экстремальных состояниях» современного дизайн-центра научно-технического творчества «Электроника для современных физических экспериментов», нацеленного на автоматизированное компьютерное проектирование специализированных интегральных микросхем и сенсоров и их опытное изготовление как на собственной, так и передовой зарубежной технологической базе.
3.

Минерагения благородных металлов и алмазов северо-восточной части балтийского щита     

Гавриленко Борис Викторович - Библиотека диссертаций Геологического факультета МГУ , 2003
Гавриленко Борис Викторович. Минерагения благородных металлов и алмазов северо-восточной части Балтийского щита: Автореф. дис. канд. геолого-минералогических наук : 25.00.11 / Геологический институт Кольского научного центра РАН - Москва, 2003 - 399с.
4.

Электронно-структурная метастабильность катионных донорных центров в GaAs     

Онопко Д.Е., Баграев Н.Т., Рыскин А.И. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 1997
Реконструкция мелких доноров в кристаллах GaAs--Ga1-xAlxAs, сопровождающаяся образованием глубоких катионных DX-центров, впервые рассматривается в кластерном приближении с помощью самосогласованного метода рассеянных волн. Демонстрируется, что образование DX--состояния C3v-симметрии может быть обусловлено отличием электронной структуры мелкого донора от структуры атома решетки, которое является причиной перехода примесного атома в ближайшее тетраэдрическое междоузлие. Предлагаемая модель катионных DX-центров основана на принципиальной возможности локализации двух антисвязывающих электронов на разрыхляющей орбитали одной из четырех тетраэдрических связей примесного центра с лигандами мышьяка, что приводит к ее значительному ослаблению и соответствующему образованию тригонального DX--состояния.
5.

Влияние дозы ирежима отжигов наформирование центров люминесценции вSiO2, имплантированном ионамиSi     

Качурин Г.А., Лейер А.Ф., Журавлев К.С., Тысченко И.Е., Гутаковский А.К., Володин В.А., Скорупа В., Янков Р.А. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 1998
Исследованы спектры фотолюминесценции слоев SiO2, имплантированных суммарными дозами 1.6· 1016, 4· 1016 и 1.6· 1017 см-2 ионов Si и затем отожженных в стационарном (30 мин) и импульсном (1 с и 20 мс) режимах. Структурные изменения контролировались высокоразрешающей электронной микроскопией и комбинационным рассеянием. Обнаружено, что при снижении дозы с 4· 1016 см-2 до 1.6· 1016 см-2 перестают формироваться центры слабой фотолюминесценции видимого диапазона, а также теряется возможность сформировать последующими отжигами нанокристаллы Si и получить сильную фотолюминесценцию в красной--ИК области. Отжигу после больших доз присущи стадии роста фотолюминесценции (до -700oC), ее гашения при 800/ 900oC и возникновения очень интенсивной полосы фотолюминесценции вблизи 820 нм (более 900oC). Последней стадии соответствует появление нанокристаллов Si. Дозовая зависимость объяснена потерей возможности вытесняемых из SiO2 избыточных атомов Si взаимодействовать между собой с образованием перколяционных кластеров. Особенности отжигов обусловлены при слабых нагревах доминированием перколяционных кластеров Si, а выше ~ 700oC--- трансформацией этих кластеров в фазовые выделения, не дающие фотолюминесценции. При температуре выше 900oC образующиеся нанокристаллы Si дают интенсивную полосу фотолюминесценции благодаря квантово-размерному эффекту. Различие в скоростях перколяции и превращения кластеров в фазовые выделения влияет на преципитацию кремния при комбинированных отжигах.
6.

Формирование центров фотолюминесценции приотжиге слоевSiO2, имплантированных ионамиGe     

Качурин Г.А., Реболе Л., Тысченко И.Е., Володин В.А., Фельсков М., Скорупа В., Фреб Х. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2000
Методами фотолюминесценции, комбинационного рассеяния и спектроскопии обратного рассеяния alpha-частиц исследовано формирование центров видимого рекомбинационного излучения при отжиге слоев SiO2, имплантированных ионамиGe. Обнаружено, что обусловленные Ge центры формируются сразу после имплантации, а с повышением температуры отжига до 800oC проявляются стадии роста и спада интенсивности полос фотолюминесценции. Диффузионное перераспределение атомов Ge наблюдалось только после 1000oC и сопровождалось формированием германиевых нанокристаллов. Это, однако, не приводило к появлению интенсивной фотолюминесценции в отличие от прошедших аналогичную обработку слоев SiO2 с избыткомSi. Считается, что до начала диффузииGe формирование центров фотолюминесценции происходит путем замыкания прямых связей между близкими избыточными атомами, что дает доминирующую фиолетовую полосу (аналогичную фотолюминесценции вакансийO вSiO2) и слабое длинноволновое свечение различных комплексовGe. Последующее образование центров фотолюминесценции с lambdam~570 нм при отжигах ниже 800oC объяснено стягиванием связанных атомов Ge в компактные некристаллические преципитаты. Отсутствие после высокотемпературных отжигов сильной фотолюминесценции обусловлено несовершенством границ раздела между сформировавшимися нанокристалламиGe и матрицейSiO2.
7.

Структура метастабильных центров атомов iiiгруппы вкристаллахiv--vi     

Онопко Д.Е., Рыскин А.И. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2000
Проведен сравнительный анализ особенностей перестройки метастабильных примесных центров в тетраэдрических (III--V иII--VI) и кубических (IV--VI) кристаллах при изменении заряда центра. На основе кластерного приближения исследуется, каким образом специфика химического строения кристаллической матрицы определяет характер реконструкции соответствующего дефекта. Для центров IV--VI : III отмечается принципиальное значение трехцентрового характера кристаллических связей и особая роль несвязывающего (слабосвязывающего) 3a1g-состояния, обладающего свойствами как примесного, так и возмущенного кристаллического состояния одновременно.
8.

Физические основы реконструкции метастабильных примесных центров вполупроводниках     

Онопко Д.Е., Рыскин А.И. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2001
На основе анализа характера изменения электронной структуры и химической связи регулярного кристалла при легировании, а также при изменении зарядового состояния дефекта предложена общая картина перестройки метастабильных центров, донорных и акцепторных, в различных полупроводниках: "классических" полупроводниковых соединенияхIII--V и II--VI, преимущественно ионном кристалле CdF2 и узкозонных соединенияхIV--VI; выявлены причины, приводящие к реконструкции центра, установлены общие тенденции и специфика их проявлений для отдельных классов кристаллов и типов примесных центров.
9.

Роль уровней прилипания неравновесных электронов впроцессе образования центров закрепления доменных стенок вмагнитном полупроводнике CdCr2Se4     

Абдуллаев А.А. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2004
В магнитном полупроводнике CdCr2Se4 с различными концентрациями примесей Ga и вакансий Se (VSe) в интервале температур 10--300 K проведены комплексные исследования электропроводности и фотопроводимости в постоянных и переменных электрических полях, термостимулированной проводимости и фотоферромагнитного эффекта. Впервые обнаружено явление фотоиндуцированной прыжковой проводимости. Показано, что центрами, ответственными за фотоферромагнитный эффект, могут быть мелкие донорные уровни, обменивающиеся захваченными ими фотоэлектронами с магнитными ионами Cr3+. Вследствие такого обмена ионы Cr приобретают валентную и спиновую неустойчивости, приводящие к неравновесному захвату ими доменной стенки.
10.

Психология выживания в современном мире. - харьков: гуманитарный центр, 2011. 300 с. (публикация автора на scipeople)   

Дружилов С.А. - Психология выживания в современном мире. - Харьков: Гуманитарный Центр, 2011. 300 с. , 2011
В своей жизни человек сталкивается с множеством проблем. Многие из них являются следствием воздействия факторов окружающей его действительности, не зависящей от человека. Для того чтобы не только выжить, но и быть успешным в этом мире, человек должен сохранить себя как личность, свое чувство субъектности. При определении «стратегии выживания личности» автор исходит из известного в психологии активности тезиса: «Мир начинается с тебя, с твоего отношения к миру, другим людям и к себе». В книге приводятся психологические рекомендации, позволяющие стать более успешным в общении с другими людьми. Книга может быть полезна практическим психологам, педагогам школ, студентам, изучающим психологию, а также всем тем, кто интересуется практической психологией и социальными технологиями.