Найдено научных статей и публикаций: 1323   
61.

Петрология и геохимия океанических и альпинотипных шпинелевых перидотитов в связи с проблемой эволюции мантийного вещества     

Базылев Борис Александрович - Библиотека диссертаций Геологического факультета МГУ , 2003
Базылев Борис Александрович. Петрология и геохимия океанических и альпинотипных шпинелевых перидотитов в связи с проблемой эволюции мантийного вещества: Автореф. дис. канд. геолого-минералогических наук : 25.00.09 - Москва, 2003 - 381с.
62.

Минерагения благородных металлов и алмазов северо-восточной части балтийского щита     

Гавриленко Борис Викторович - Библиотека диссертаций Геологического факультета МГУ , 2003
Гавриленко Борис Викторович. Минерагения благородных металлов и алмазов северо-восточной части Балтийского щита: Автореф. дис. канд. геолого-минералогических наук : 25.00.11 / Геологический институт Кольского научного центра РАН - Москва, 2003 - 399с.
63.

Ионно-индуцированные процессы и методы исследования поверхностного слоя при высокодозном облучении металлов и углеграфитовых материалов     

БОРИСОВ Анатолий Михайлович - Научно-исследовательский институт ядерной физики им. Д.В. Скобельцына (НИИЯФ) , 2005
БОРИСОВ Анатолий Михайлович. ИОННО-ИНДУЦИРОВАННЫЕ ПРОЦЕССЫ И МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТНОГО СЛОЯ ПРИ ВЫСОКОДОЗНОМ ОБЛУЧЕНИИ МЕТАЛЛОВ И УГЛЕГРАФИТОВЫХ МАТЕРИАЛОВ: Автореф. дис. канд. физико-математических наук : 01.04.08 / НИИЯФ МГУ, 2005
64.

Теория планарно-неоднородного МОП транзистора в области слабой инверсии. Методика определения поверхностных параметров     

Бормонтов Е.Н., Левин М.Н., Вялых С.А., Борисов С.Н. - Журнал Технической Физики , 2001
Представлена модификация известной модели вольт-амперных характеристик Оверстратена и др. [1] для МОП транзистора в области слабой инверсии, учитывающая планарную неоднородность поверхностного потенциала полупроводника. Предложена простая и удобная методика определения спектральной плотности поверхностных состояний и флуктуационного параметра по выходным (сток-стоковым) и передаточным (сток-затворным) однопороговым вольт-амперным характеристикам. Дополнительное измерение порогового напряжения МОП транзистора дает возможность рассчитать эффективный заряд окисла. Методика позволяет определять указанные поверхностные параметры МОП транзисторов с достаточно хорошей точностью и удобна для тестового контроля интегральных микросхем.
65.

Акустические исследования плавления и затвердевания галлия, введенного в матрицу опала     

Dereppe J.M., Борисов Б.Ф., Чарная Е.В., Шеляпин А.В., Нассар М.М., Кумзеров Ю.А. - Журнал "Физика Твердого Тела" , 2000
Проведены акустические исследования процессов кристаллизации и плавления галлия, введенного в опалоподобную матрицу. Обнаружены гистерезисные зависимости скорости и поглощения продольных ультразвуковых волн при фазовых переходах в alpha- и beta-модификациях. Показано, что акустические методы не регистрируют плавление и кристаллизацию в тетрагональной фазе галлия, образующейся в условиях ограниченной геометрии. Получены экспериментальные факты, свидетельствующие в пользу гетерогенной кристаллизации галлия в порах.
66.

Влияние полей случайно расположенных заряженных центров на поляризацию люминесценции     

Осипов Е.Б., Борисов В.Б., Сорокина Н.О., Осипова Н.А. - Журнал "Физика Твердого Тела" , 2000
Рассматривается влияние случайно расположенных заряженных центров в кристалле на поляризацию люминесценции, связанную с ян-теллеровскими центрами в условиях однородной деформации.
67.

Анализ поляризованных arpes-спектров недопированных купратов     

Гавричков В.А., Борисов А.А., Овчинников С.Г. - Журнал "Физика Твердого Тела" , 2001
C помощью обобщенного метода сильной связи исследована спектральная плотность в ARPES-спектрах антиферромагнитных диэлектриков Sr2CuO2Cl2 и Ca2CuO2Cl2 вдоль основных симметричных направлений зоны Бриллюэна. Установлено, что на потолке валентной зоны данных недопированных соединений в АФМ фазе имеется псевдощель магнитной природы Es( k)~0-0.4 eV между виртуальным уровнем и самой валентной зоной, а близость триплета 3B1g и уровня ZR-синглета может являться причиной наблюдаемого подобия дисперсии вдоль направлений Gamma=<ftrightarrow M и X=<ftrightarrow Y. Рассчитанная четность поляризованных ARPES-спектров в точках Gamma,M,X для АФМ фазы с учетом парциальных вкладов является положительной. Указаны также условия наблюдения парциальных вкладов в поляризованных ARPES-экспериментах. За счет спиновых флуктуаций виртуальный уровень приобретает дисперсию и малый спектральный вес. Вероятно, эффекты затухания просто не позволяют его разрешить на фоне основного квазичастичного пика. Работа выполнена при поддержке Красноярского научного фонда (КНФ грант N 9F0039).
68.

Вихри имагнитные структуры типа "мишени" вдвумерном ферромагнетике санизотропным обменным взаимодействием     

Борисов А.Б., Зыков С.А., Микушина Н.А., Москвин А.С. - Журнал "Физика Твердого Тела" , 2002
В рамках континуального приближения исследуются различные типы магнитных структур в двумерном гейзенберговском ферромагнетике. Изучается влияние параметров анизотропного обмена и одноионной анизотропии на структуру вихря. В легкоплоскостном ферромагнетике предсказывается существование нового типа статических образований ("мишеней") и исследуется их структура.
69.

Особенности неупругого рассеяния нейтронов наta фононах всильно легированном арсениде галлия     

Борисов С.А., Вахрушев С.Б., Набережнов А.А., Окунева Н.М. - Журнал "Физика Твердого Тела" , 2005
Представлены результаты исследования температурной зависимости формы линии неупругого рассеяния нейтронов на TA фононах в GaAs, сильно легированном Te, в интервале температур от 363 до 253 K. Показано, что легирование теллуром (при концентрации носителей Ne~ 2· 1018 cm-3) приводит к появлению дополнительного вклада в рассеяние в области TA фононных резонансов со стороны высоких энергий при значениях приведенного волнового вектора q
70.

Перезарядка центров с глубокими уровнями иотрицательная остаточная фотопроводимость вселективно легированных гетероструктурах AlGaAs / GaAs     

Борисов В.И., Сабликов В.А., Борисова И.В., Чмиль А.И. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 1999
Исследована кинетика релаксации фотопроводимости селективно легированных гетероструктур AlGaAs / GaAs, связанная с перезарядкой структурных дефектов с глубокими уровнями (EL2- и DX-центров). Установлено, что фотоиндуцированная перезарядка глубоких центров приводит к накоплению на них как положительного, так и отрицательного зарядов и таким образом вызывает положительную и отрицательную остаточную фотопроводимость. Положительные и отрицательные заряды накапливаются в разных частях гетероструктуры и характеризуются разными временами релаксации, по-разному зависящими от температуры. С этим связан немонотонный характер релаксации остаточной фотопроводимости и немонотонные температурные зависимости. Выяснено, что презарядка EL2-центров приводит к отрицательной остаточной фотопроводимости в области температур 180/300 K. При температурах ниже 180 K наблюдается отрицательная фотопроводимость, связанная с возбужденными состояниями DX-центров.