Совместный анализ производных C'V(Vg) экспериментальной и идеальной квазистатических вольт-фарадных характеристик, представленных в зависимости от нормированной дифференциальной емкости МДП структуры VV(Vg), позволяет идентифицировать в пределах энергетической щели полупроводника Eg области, в которых практически отсутствуют пограничные состояния и в которых легко установить связь между поверхностным потенциаломpsiS реального полупроводника и приложенным к МДП структуре напряжениемVg. Это позволяет достаточно точно определять аддитивные постоянные psiS0(Vg0), необходимые для расчета зависимости psiS(Vg) во всем диапазоне измененийVg путем численного интегрирования экспериментальной квазистатистической вольт-фарадной характеристики. Сопоставление этой зависимости с идеальной детально характеризует интегральные электронные свойства гетерограницы полупроводник--диэлектрик: усредненную по Eg плотность пограничных состояний, качественный характер их распределения по ширине щели, напряжение плоских зонVFB и его компоненты, обусловленные фиксированным зарядом в подзатворном диэлектрике и зарядом, локализованным на пограничных состояниях. Высокая точность регистрацииVFB обеспечивает обнаружение даже слабого \glqq физического\grqq отклика МДП структур на внешние воздействия или на вариации технологии формирования гетерограницы. Приводятся результаты такого рода анализа для типичной гетерограницы SiO2/Si n-Si-МОПструктуры. Отмечается перспективность применения диаграмм C'V-\kern0.5ptCV для анализа высокочастотных вольт-фарадных характеристик.

Филиппов В.п. Уточнение используемого типа функций Бесселя при расчетах величины эффекта и площади мессбауэровских спектров // Научная сессия МИФИ-1999. Ч.5 Перспективные наукоемкие технологии. Физика и химия новых неорганических материалов. Молекулярно-селективные и нелинейные явления и процессы. Физико-технические проблемы нетрадиционной энергетики. Физико-технические проблемы ядерной энергетики, стр. 97

Саманчук В.н. Оперативный контроль датчиков пространственно распределенных физических величин // Научная сессия МИФИ-2000. Т.2 Информатика и процессы управления. Информационные технологии. Сетевые технологии и параллельные вычисления, стр. 21

Артамкин С.н., Сотников Ю.г. Математическая обработка распределений дискретных величин на ограниченной площади в геофизике // Научная сессия МИФИ-2000. Ч.5 Биофизика. Математическое моделирование в геофизике. Медицинская физика. Охрана окружающей среды и рациональное природопользование. Теоретические проблемы физики, стр. 28-29

Михайлов В.н., Бибилашвили Ю.к., Зайцев С.м., Кузнецов А.и., Локтев А.м., Межуев В.а., Милованов О.в., Михеев Е.н., Никитаев В.г., Проничев А.н. Методы определения величины зерна при промышленном контроле микроструктуры ядерного топлива // Научная сессия МИФИ-2001. Т.1 Автоматика. Электроника. Микроэлектроника. Электронные измерительные системы, стр. 193-194

Виноградов А.в., Зайцев С.м., Кузнецов А.и., Межуев В.а., Никитаев В.г., Погорелов А.к., Проничев А.н. Экспериментальная оценка точности определения величины зерна методом случайных секущих // Научная сессия МИФИ-2001. Т.1 Автоматика. Электроника. Микроэлектроника. Электронные измерительные системы, стр. 197-198

Михайлов В.н., Бибилашвили Ю.к., Гаврилов Б.м., Годин Ю.г., Ермолов Б.б., Зайцев С.м., Кузнецов А.и., Локтев А.м., Межуев В.а., Милованов О.в., Михеев Е.н., Никитаев В.г., Погорелов А.к., Проничев А.н., Стаценко В.и., Федоров В.е. Экспериментальное определение погрешности измерения величины зерна с применением экспертных оценок // Научная сессия МИФИ-2001. Т.1 Автоматика. Электроника. Микроэлектроника. Электронные измерительные системы, стр. 200-202

Нечаев В.в., Елманов Г.н., Хорошев Д.а. Электронные "База данных" и "Справочник термохимических и физических величин" // Научная сессия МИФИ-2001. Т.10 Телекоммуникации и новые информационные технологии в образовании, стр. 39

Никитаев В.г. Модель методической составляющей погрешности измерения величины зерна // Научная сессия МИФИ-2002. Т.1 Автоматика. Микроэлектроника. Электроника. Электронные измерительные системы, стр. 240

Никитаев В.г. Модель составляющей погрешности измерения величины зерна, обусловленной искажениями микроскопа // Научная сессия МИФИ-2002. Т.1 Автоматика. Микроэлектроника. Электроника. Электронные измерительные системы, стр. 241-242