Найдено научных статей и публикаций: 409   
81.

Лазеры на квантовых точках: основные компоненты пороговой плотности тока     

Зайцев С.В., Гордеев Н.Ю., Копчатов В.И., Георгиевский А.М., Устинов В.М., Жуков А.Е., Егоров А.Ю., Ковш А.Р., Леденцов Н.Н., Копьев П.С., Бимберг Д., Алферов Ж.И. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 1997
Исследованы инжекционные гетеролазеры на квантовых точках, выращенные методом молекулярно-пучковой эпитаксии. Показано, что пороговая плотность тока при комнатной температуре может быть снижена до 15 А/см2 при уменьшении безызлучательной рекомбинации и при повышении степени локализации носителей. С помощью метода электропоглощения исследована плотность состояний в структурах с вертикально-связанными квантовыми точками.
82.

Влияние сверхстехиометрических компонентов наспектрально-кинетические характеристикилюминесценции изовалентно легированных кристаллов ZnSe     

Вакуленко О.В., Рыжиков В.Д., Силин В.И., Старжинский Н.Г. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 1997
В интервале температур T=80/500 K исследованы спектрально-кинетические характеристики рентгенолюминесценции кристаллов ZnSe, легированных Zn, Se и Te в процессе роста и отожженных (или неотожженных) в парах Zn. Для кристаллов ZnSe, выращенных из шихты стехиометрического состава или с примесью халькогенов, свойственны минимальный уровень послесвечения, а также резкое возрастание интенсивности РЛ и смещение ее максимума из инфракрасной области в красную после их отжига в цинке. Кристаллы ZnSe, выращенные из шихты, содержащей избыток Zn, имеют относительно низкий выход РЛ при значительном уровне послесвечения. Предполагается, что при выращивании кристаллов, активированных Te, в них генерируются термодинамически устойчивые комплексы VZnTeSe, являющиеся центрами излучательной рекомбинации. Введение избытка Zn в исходную шихту приводит к уменьшению концентрации VZn и, следовательно, центров излучательной рекомбинации. Показано, что при концентрациях свободных электронов n1018 см-3 наблюдается уменьшение tau с ростом n, которое не может быть объяснено в рамках этой простой модели. Предполагается, что в кристаллах с n>1018 см-3, полученных в результате длительного отжига в парах Zn, формируются центры излучательной рекомбинации нового типа.
83.

Экстракция носителей заряда в полупроводниках с монополярной компонентой фотопроводимости     

Власенко А.И., Власенко З.К., Любченко А.В. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 1997
Теоретически и экспериментально исследован эффект экстракции неосновных носителей заряда в полупроводниках с монополярной компонентной фотопроводимости при различных температурах на примере CdxHg1-xTe(x~ 0.2).
84.

Динамика изменения спектров фотолюминесценции образцов CdTe стехиометрического состава в зависимости от чистоты исходных компонентов     

Квит А.В., Клевков Ю.В., Медведев С.А., Багаев В.С., Пересторонин А., Плотников А.Ф. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2000
Представлен новый сублимационный метод очистки веществ в вакууме, основанный на фазовом превращении кристалл--пар--кристалл. Приведена принципиальная конструкция ростового реактора и основные параметры глубокой очистки соединения CdTe. С помощью низкотемпературной фотолюминесценции показана динамика очистки, характеризующаяся полным распадом различных комплексов и резким уменьшением концентрации как мелких, так и глубоких остаточных примесей. На финишном этапе очистки получен поликристаллический CdTe состава, близкого к стехиометрическому, в спектре фотолюминесценции которого полностью отсутствует примесное излучение и остается только экситонная часть. Экспериментально подтверждена необходимость глубокой очистки исходных компонент. Аналогичные результаты получены для ZnTe и ZnSe.
85.

Обобщенная многослоевая модель дляколичественного анализа электромодуляционных компонент спектров электроотражения ифотоотражения полупроводников вобласти фундаментального переходаe0     

Кузьменко Р., Ганжа А., Домашевская Э.П., Кирхер В., Хильдебрандт Ш. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2000
Исходя из эффекта Франца--Келдыша как механизма, ответственного за возникновение межзонной электромодуляционной компоненты E0, для ее моделирования предлагается обобщенная многослоевая модель. Вмодели учитываются такие физические параметры, как напряженность поверхностного электрического поля и профиль его спада в области пространственного заряда, энергетическое уширение и частичная модуляция поверхностного электрического поля. Показывается, что в моделируемых спектрах могут быть выделены три области--- низкоэнергетическая область, область главного пика и область высокоэнергетических осцилляций Франца--Келдыша. Исследуется воздействие модельных параметров на форму линии в этих областях. Путем количественного анализа экспериментальных спектров фотоотражения подложек CaAs и InP (n=1015 см-3-1018 cм-3) определяются области значений реальных параметров.
86.

Влияние плотности лазерного возбуждения нахарактеристическую временную постоянную ивеличину среднеполевой электромодуляционной компоненты сигнала фотоотражения вобласти фундаментального переходаe0     

Кузьменко Р.В., Ганжа А.В., Домашевская Э.П., Хильдебрандт С., Шрайбер Й. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2002
Исследуется влияние плотности лазерного возбуждения L на величину и характеристическую временную постоянную среднеполевой электромодуляционной компоненты спектров фотоотражения, измеряемых в области фундаментального переходаE0 прямозонного полупроводника. Серии измерений спектров проводились в области значенийL=100 мкВт/см2-1 Вт/см2 на образцах GaAs с концентрацией носителей заряда n~1016 см-3. Для всех исследованных образцов обнаружена логарифмическая зависимость величины электромодуляционного сигнала от плотности лазерного возбуждения. Установлено, что наблюдаемое изменение характеристической временной постоянной компоненты не оказывает какого-либо заметного влияния на величину измеряемого сигнала.
87.

Морфология, двойникование ифотолюминесценция кристаллов ZnTe, выращенных методом химического синтеза компонентов изпаровой фазы     

Клевков Ю.В., Мартовицкий В.П., Багаев В.С., Кривобок В.С. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2006
Исследованы особенности роста, дефектная структура и фотолюминесценция кристаллитов ZnTe, полученных на стенках кристаллизатора при температуре 650oC в режиме быстрого роста из пересыщенных паров исходных компонентов. Каждый отдельный кристаллит размером до10 мм имеет общую ось[011], вокруг которой сдвойниковано несколько индивидов. Совершенные фрагменты отдельных индивидов сложены одной системой плоских макрослоев (110) толщиной в несколько десятков микрометров каждый. Монокристаллическая пластина толщиной0.8 мм, содержащая на одной стороне слои роста (110), пересекается системой перпендикулярных к ростовой поверхности двойниковых границ (111) с понижением числа границ на внешней ростовой поверхности. Спектры фотолюминесценции подтверждают структурное совершенство полученных кристаллов. PACS: 61.66.Fn, 61.72.Mm, 78.55.Et
88.

Микрофотолюминесценция нелегированного теллурида кадмия, полученного неравновесным методом прямого синтеза впотоке паров компонентов     

Ушаков В.В., Клевков Ю.В. - Журнал "Физика и Техника Полупроводников" , 2007
Методом микрофотолюминесцентного спектрального анализа и имиджинга исследованы свойства нелегированного CdTe, полученного неравновесным методом прямого синтеза в потоке паров компонентов. Несмотря на весьма значительное увеличение скорости кристаллизации, большая интенсивность краевой полосы с разрешением спектроскопических деталей внутри ее контура при температурах~100 K свидетельствовала о высоком качестве кристаллического материала с размером монокристаллических зерен до0.5 мм. Люминесцентные топограммы исследованных образцов напоминали по форме топограммы кристаллов, выращенных квазиравновесными методами, однако механизм сегрегации примесей на межзеренных границах в исследованных кристаллических структурах не был связан с диффузионными процессами, а имел иную природу. PACS71.55.Gs, 78.55.Et, 81.05.Dz
89.

Деструктивные изменения компонентов педагогической деятельности в процессе становления профессионального опыта      

Сыманюк Э.Э., Тукачев Ю.А. - Образование и наука: Известия УрО РАО , 2005
В статье рассмотрен феномен профессионального опыта педагога. Излагаются результаты опытно-поискового исследования, направленного на раскрытие психологических аспектов профессионального опыта в контексте значимых ситуаций и событий, сохраняющихся в опыте как определенный способ поведения, анализируется специфика прогнозирования субъектом последствий тех или иных действий в аналогичных ситуациях. Обсуждаются эмпирические данные о различиях восприятия ситуаций педагогической деятельности «новичками» и «опытными» педагогами. Ключевые слова: профессиональный опыт, события и ситуации педагогической деятельности.
90.

Физико-химическое взаимодействие компонентов активной зоны при имитации развития тяжелой аварии     

Баранов В.г., Годин Ю.г., Соловьев Г.и. - Научная сессия МИФИ-1998. Ч.4 Физико-технические проблемы ядерной энергетики. Физико-технические проблемы нетрадиционной энергетики. Топливо и энергетика. Физикохимия и технология неорганических материалов. Новые материалы и химические продукты. Производ , 1998
Баранов В.г., Годин Ю.г., Соловьев Г.и. Физико-химическое взаимодействие компонентов активной зоны при имитации развития тяжелой аварии // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.4 Физико-технические проблемы ядерной энергетики. Физико-технические проблемы нетрадиционной энергетики. Топливо и энергетика. Физикохимия и технология неорганических материалов. Новые материалы и химические продукты. Производственные технологии, стр. 179-180