Разрабатывается теория расчета магнитного поля и силовых характеристик электромагнитного подвеса сверхпроводящего тела, основанная на методе вторичных источников. Этот метод приводит к системе векторных интергальных уравнений Фредгольма второго рода относительно плотности вторичных источников, решение которых позволяет найти поверхностные токи на сверхпроводящих телах, а затем простым интегрированием магнитное поле и силовые характеристики подвеса. Показывается, как переформулировать задачу, чтобы свести ее к определению скалярных вторичных источников (магнитных зарядов), приводящую к интегральным уравнениям меньшей размерности. Даются примеры расчета скалярных вторичных источников для сверхпроводящих полупространства и цилиндра.

Используя теорию расчета магнитного поля и силовых характеристик электромагнитного подвеса сверхпроводящего тела, развитую в статье [1], проводятся конкретные вычисления силовых характеристик многокатушечного подвеса сверхпроводящего шара. Получены формульные зависимости сил и жесткостей, позволяющие рассмотреть вопрос об устойчивом удержании сверхпроводящего шара в поле системы круговых токов. Рассмотрен вопрос об определении магнитного поля на шаре и найдено условие при котором оно меньше критического.

Численными методами проведен анализ структуры магнитного поля идеальной ловушки Торнадо, т. е. состоящей из линейных токов, величина и расположение в пространстве которых таковы, что существует сферическая сепаратриса с радиусом etac, расположенная между спиралями ловушки и разделяющая магнитное поле на две области, так что силовые линии из рабочего объема eta

Методом компьютерного моделирования впервые получено изображение изосиловой поверхности с дефектом в атомно-силовом микроскопе. Детально исследована зависимость компьютерного изображения поверхностной пентавакансии от радиуса острия. Показано, что разрешающая способность повышается с уменьшением радиуса острия.

Описаны исследования влияния пластической деформации и температуры деформирования на зависимость от температуры величины развиваемых усилий в сплавах никелида титана, обладающих свойствами памяти формы.

Представлена конструкция фотонного сканирующего туннельного микроскопа. Подробно обсуждаются режим, "shear force" и преимущества нерезонансного возбуждения зонда. Предложено использовать метод реплики для оценки размера активной части зонда.

Описан алгоритм компьютерного моделирования изображений магнитно-силовой микроскопии (MFM), основанный на формализме Брауна, учитывающий форму и магнитные свойства MFM-иглы и исследуемого образца. Проведен анализ устойчивости и работоспособности разработанного метода компьютерного анализа на примере моделирования MFM-изображения от точечного магнитного диполя в случае, когда MFM-игла аппроксимируется немагнитным усеченным конусом с тонким однородно намагниченным магнитным покрытием. На основании компьютерного моделирования MFM-изображений от точечного магнитного диполя получены оптимальные параметры для MFM-зонда.

В рамках термодинамического подхода рассмотрено контактное взаимодействие в атомно-силовом микроскопе (АСМ). Показано, что гистерезис, наблюдаемый при зондировании образца в вертикальном направлении, обусловлен термодинамическим циклом поверхностная энергия--работа. Проведен расчет силы взаимодействия между образцом и иглой АСМ, имеющей форму параболоида вращения. Найдены флуктуации основных термодинамических величин. Обсуждается роль электрокапиллярных сил. Предложен новый метод спектроскопии в режиме боковых сил.

В рамках линейной теории изучен капиллярный распад слоя вязкой магнитной жидкости, находящейся в состоянии гидроневесомости при наличии градиентного магнитного поля. Внутренней границей слоя служит цилиндрическая поверхность токонесущего проводника, а внешней --- коаксиальная поверхность раздела с несмешивающейся невязкой жидкостью меньшей магнитной проницаемости. Исследовано влияние относительной толщины слоя и магнитного числа Бонда на характерное время развития наиболее быстро растущей гармоники и на характерный размер капель, образующихся в предельных режимах капиллярного распада (при больших и малых числах Онезорге).

Исследована возможность применения атомно-силовой акустической микроскопии (АСАМ) для измерения упругих свойств тонкопленочных покрытий и контроля их толщины в диапазоне от единиц до сотен нанометров. Практический интерес данная методика может иметь при исследовании алмазоподобных покрытий. Главной особенностью предлагаемого подхода является применение \glqq плоских\grqq зондов, обеспечивающих постоянство площади контакта зонда с поверхностью, а следовательно, и контактной жесткости. Применение подобных зондов обусловлено тем, что стандартные зонды с закругленным острием не позволяют количественно интерпретировать экспериментальные данные при исследовании тонкопленочных структур. На основе результатов численного моделирования были получены данные, позволяющие по измеренному с помощью методики АСАМ значению контактной жесткости kcont количественно определять такие параметры, как толщину или индентационный модуль покрытия. PACS: 81.05.-t