Трояновский A.M., Эдельман B.C.. CTM изображение поверхности (001) РЬ с атомным разрешением // Письма в ЖЭТФ, том 57, вып. 7, http://www.jetpletters.ac.ru

Конопский В.Н., Секацкий С.К., Летохов B.C.. Исследование поверхности кристалла LiFrFJ с субволновым пространственным разрешением // Письма в ЖЭТФ, том 60, вып. 10, http://www.jetpletters.ac.ru

Инденбом В.Л., Точилин С.Б.. Как увидеть атомное строение кристалла без микроскопа высокого разрешения // Письма в ЖЭТФ, том 62, вып. 3, http://www.jetpletters.ac.ru

Никлес П.В., Калашников М.П., Шнюрер М., Брюнеткин Б.А., Скобелев И.Ю., Фаенов А.Я.. Высокоразрешающая рентгеновская диагностика высокотемпературной плазмы с пикосекундным временным разрешением // Письма в ЖЭТФ, том 62, вып. 12, http://www.jetpletters.ac.ru

Секацкий С.К., Летохов B.C.. Сканирующая оптическая микроскопия нанометрового разрешения с резонансным возбуждением флуоресценции образцов от одноатомного возбужденного центра // Письма в ЖЭТФ, том 63, вып. 5, http://www.jetpletters.ac.ru

Казанцев Д.В., Гиппиус Н.А., Ошиново Дж., Форхель А.. Спектроскопия микроструктур GaAs/AlGaAs с субмикронным пространственным разрешением с помощью сканирующего микроскопа ближнего оптического поля // Письма в ЖЭТФ, том 63, вып. 7, http://www.jetpletters.ac.ru

Белинский А.В.. К поиску разрешения парадокса Белла // Письма в ЖЭТФ, том 64, вып. 4, http://www.jetpletters.ac.ru

Инденбом В.Л.. Наблюдение атомного строения кристалла без электронного микроскопа высокого разрешения // Письма в ЖЭТФ, том 66, вып. 6, http://www.jetpletters.ac.ru

Секацкий С.К., Серебряков Д.В., Летохов В.С.. Лазерная фотоионная фотоселективная микроскопия с разрешением 5 нм // Письма в ЖЭТФ, том 67, вып. 7, http://www.jetpletters.ac.ru

Экспериментально реализован метод получения эмиссионных проекционных изображений непроводящих острий со сверхвысоким пространственным разрешением. Бессканирующим методом получено изображение острия стеклянного микрокапилляра с пространственным разрешением не хуже 20 нм.