Найдено научных статей и публикаций: 132
11.
Вольт-амперная характеристика для электронов с узкикими разрешенными зонами при низких температурах
Гоголин А.А.. Вольт-амперная характеристика для электронов с узкикими разрешенными зонами при низких температурах // Письма в ЖЭТФ, том 32, вып. 1, http://www.jetpletters.ac.ru
12.
ИК и КР спектроскопия высокого разрешения колебаний v_3(f)_2 и v_1 (apha_1) молекулы ^{74}GeH_4
Козлов Д.Н., Никлес П.В., Прохоров А.М., Смирнов В.В., Чуксин С.М.. ИК и КР спектроскопия высокого разрешения колебаний v_3(f)_2 и v_1 (apha_1) молекулы ^{74}GeH_4 // Письма в ЖЭТФ, том 32, вып. 1, http://www.jetpletters.ac.ru
13.
Измерение с субпикосекундным временным разрешением скоростей переноса энергии и электрона в физических стадиях фотосинтеза
Клеваник А.В., Крюков П.Г., Матвеец Ю.А., Семшен В.А., Шувалов В.А.. Измерение с субпикосекундным временным разрешением скоростей переноса энергии и электрона в физических стадиях фотосинтеза // Письма в ЖЭТФ, том 32, вып. 2, http://www.jetpletters.ac.ru
14.
Исследование фокусировки сильноточного релятивистского электронного пучка с высоким временным разрешением
Горбулин Ю.М., Злотников Д.М., Калинин Ю.Г., Скорюпин В.А., Шашков А.Ю.. Исследование фокусировки сильноточного релятивистского электронного пучка с высоким временным разрешением // Письма в ЖЭТФ, том 35, вып. 8, http://www.jetpletters.ac.ru
15.
Ангстремное разрешение при определении структуры приповерхностных слоев кристалла методом рентгеновской дифракции
Якимов С.С., Чапланов В.А., Афанасьев A.M., Александров П.А., Имамов P.M., Ломов Л.А.. Ангстремное разрешение при определении структуры приповерхностных слоев кристалла методом рентгеновской дифракции // Письма в ЖЭТФ, том 39, вып. 1, http://www.jetpletters.ac.ru
16.
Об измерении разности масс ионов гелия-3 и трития методом ион-циклотронного резонанса высокого разрешения
Липпмаа Э.Т., Пиквер Р.Й., Суурмаа Э.Р., Паст Я.О., Пускар Ю.Х., Коппель И.А., Таммик А.А.. Об измерении разности масс ионов гелия-3 и трития методом ион-циклотронного резонанса высокого разрешения // Письма в ЖЭТФ, том 39, вып. 11, http://www.jetpletters.ac.ru
17.
Лазерная спектроскопия сверхвысокого разрешения с холодными частицами
Багаев С.Н., Бакланов А.Е., Дычков А.С., Покасов П.В., Чеботаев В.П.. Лазерная спектроскопия сверхвысокого разрешения с холодными частицами // Письма в ЖЭТФ, том 45, вып. 8, http://www.jetpletters.ac.ru
18.
Нелинейная интроскопия высокого разрешения - новое применение самофокусировки
Аскарьян Г.А., Юркий А.В.. Нелинейная интроскопия высокого разрешения - новое применение самофокусировки // Письма в ЖЭТФ, том 47, вып. 10, http://www.jetpletters.ac.ru
19.
Пикосекундное разрешенное во времени фотонное эхо в системе собственных возбуждений среды (смешанные кристаллы CdSe_xS_{1-x}
Нолль Г., Зигнер У., Шевель С.Г., Гёбель Э.. Пикосекундное разрешенное во времени фотонное эхо в системе собственных возбуждений среды (смешанные кристаллы CdSe_xS_{1-x} // Письма в ЖЭТФ, том 51, вып. 7, http://www.jetpletters.ac.ru
20.
Пространственная дисперсия первого порядка в горячей электронно-дырочной плазме арсенида галлия: поляризационная диагностика с пикосекундным временным разрешением
Желудев Н.И., Паращук Д.Ю.. Пространственная дисперсия первого порядка в горячей электронно-дырочной плазме арсенида галлия: поляризационная диагностика с пикосекундным временным разрешением // Письма в ЖЭТФ, том 52, вып. 1, http://www.jetpletters.ac.ru