тестирование - научные статьи на Scholar.ru

51.

Пакет программ для создания компьютерных комплексов тестирования знаний

Жуков Д.о., Алешкин А.с., Арутюнов И.с., Гусаров А.н. - Научная сессия МИФИ-2003. Т.12 Информатика и процессы управления. Компьютерные системы и технологии , 2003

Жуков Д.о., Алешкин А.с., Арутюнов И.с., Гусаров А.н. Пакет программ для создания компьютерных комплексов тестирования знаний // Научная сессия МИФИ-2003. Т.12 Информатика и процессы управления. Компьютерные системы и технологии, стр. 210-211

52.

Создание системы тестирования

Мещеряков А.в. - Научная сессия МИФИ-2003. Т.12 Информатика и процессы управления. Компьютерные системы и технологии , 2003

Мещеряков А.в. Создание системы тестирования // Научная сессия МИФИ-2003. Т.12 Информатика и процессы управления. Компьютерные системы и технологии, стр. 222

53.

О тестировании скб на этапе ее проектирования

Беляева Е.а., Кузоятов О.п., Мосолов А.с. - Научная сессия МИФИ-2003. 10 Всероссийская научная конференция. Проблемы информационной безопасности в системе высшей школы , 2003

Беляева Е.а., Кузоятов О.п., Мосолов А.с. О тестировании СКБ на этапе ее проектирования // Научная сессия МИФИ-2003. 10 Всероссийская научная конференция. Проблемы информационной безопасности в системе высшей школы, стр. 32-35

54.

Интенсификация учебного процесса на военной кафедре с помощью подсистемы тестирования электронного учебника

Демидов Е.н., Кушнарев Ю.а., Юшков О.в. - Научная сессия МИФИ-2003. 10 Всероссийская научная конференция. Проблемы информационной безопасности в системе высшей школы , 2003

Демидов Е.н., Кушнарев Ю.а., Юшков О.в. Интенсификация учебного процесса на военной кафедре с помощью подсистемы тестирования электронного учебника // Научная сессия МИФИ-2003. 10 Всероссийская научная конференция. Проблемы информационной безопасности в системе высшей школы, стр. 215-216

55.

Программный комплекс тестирования знаний и психологических характеристик студентов

Журин С.и. - Научная сессия МИФИ-2003. 10 Всероссийская научная конференция. Проблемы информационной безопасности в системе высшей школы , 2003

Журин С.и. Программный комплекс тестирования знаний и психологических характеристик студентов // Научная сессия МИФИ-2003. 10 Всероссийская научная конференция. Проблемы информационной безопасности в системе высшей школы, стр. 219

56.

Разработка защищенной распределенной сети тестирования профессиональных знаний

Лившиц Н.в. - Научная сессия МИФИ-2003. 10 Всероссийская научная конференция. Проблемы информационной безопасности в системе высшей школы , 2003

Лившиц Н.в. Разработка защищенной распределенной сети тестирования профессиональных знаний // Научная сессия МИФИ-2003. 10 Всероссийская научная конференция. Проблемы информационной безопасности в системе высшей школы, стр. 232-234

57.

Проблемы защиты информации в системах дистанционного тестирования

Милославская Н.г., Трофимов Е.а. - Научная сессия МИФИ-2003. 10 Всероссийская научная конференция. Проблемы информационной безопасности в системе высшей школы , 2003

Милославская Н.г., Трофимов Е.а. Проблемы защиты информации в системах дистанционного тестирования // Научная сессия МИФИ-2003. 10 Всероссийская научная конференция. Проблемы информационной безопасности в системе высшей школы, стр. 237-238

58.

Модуль тестирования и отладки hdl-моделей

Шагурин И.и., Жохов Д.в., Недорезов А.в., Жохова М.м. - Научная сессия МИФИ-2004. Т.1 Автоматика. Микроэлектроника. Электроника. Электронные измерительные системы , 2004

Шагурин И.и., Жохов Д.в., Недорезов А.в., Жохова М.м. Модуль тестирования и отладки HDL-моделей // Научная сессия МИФИ-2004. Т.1 Автоматика. Микроэлектроника. Электроника. Электронные измерительные системы, стр. 126-127

59.

Универсальная модель микроконтроллера, предназначенного для тестирования цифровых устройств, подключенных к параллельной шине

Шагурин И.и., Бобков С.г., Задябин С.о., Новожилов Е.е., Дубровин Р.д. - Научная сессия МИФИ-2004. Т.1 Автоматика. Микроэлектроника. Электроника. Электронные измерительные системы , 2004

Шагурин И.и., Бобков С.г., Задябин С.о., Новожилов Е.е., Дубровин Р.д. Универсальная модель микроконтроллера, предназначенного для тестирования цифровых устройств, подключенных к параллельной шине // Научная сессия МИФИ-2004. Т.1 Автоматика. Микроэлектроника. Электроника. Электронные измерительные системы, стр. 128-129

60.

Система тестирования графического ускорителя в составе модели графического контроллера

Бобков С.г., Виноградов В.в., Евлампиев Б.е. - Научная сессия МИФИ-2004. Т.1 Автоматика. Микроэлектроника. Электроника. Электронные измерительные системы , 2004

Бобков С.г., Виноградов В.в., Евлампиев Б.е. Система тестирования графического ускорителя в составе модели графического контроллера // Научная сессия МИФИ-2004. Т.1 Автоматика. Микроэлектроника. Электроника. Электронные измерительные системы, стр. 160-161