Рассмотрены свойства высокоскоростных пучков ионов (бимлетов), наблюдаемых в пограничной области плазменного слоя хвоста магнитосферы Земли в течение коротких интервалов времени (1--2 мин). Бимлеты являются результатом нелинейных импульсных ускорительных процессов, происходящих в токовом слое дальних областей геомагнитного хвоста. Двигаясь затем к Земле вдоль силовых линий магнитного поля, они регистрируются в хвосте магнитосферы (в пограничной области плазменного слоя) и в высокоширотной части авроральной области в виде коротких всплесков энергичных ионов (с энергиями sim несколько десятков кэВ). Методом наложения эпох определен размер области локализации бимлетов в хвосте и в авроральной области и показано, что бимлеты сосредоточены в узкой области вблизи границы плазменного слоя, широтный размер которой не превышает 0.8circ. Тем самым подтверждены предсказания теории о том, что неадиабатическое резонансное ускорение ионов происходит в пространственно ограниченной области вблизи сепаратриссы, разделяющей открытые силовые линии магнитного поля и замкнутые силовые линии, содержащие горячую и изотропную плазму плазменного слоя. На основе данных многоспутниковых измерений проекта CLUSTER изучена пространственная структура бимлетов и обнаружено, что с бимлетами связана распространяющаяся к Земле альвеновская волна, возникающая в результате возбуждения шланговой неустойчивости в момент выхода ионного пучка из токового слоя в высокоширотную область дальнего хвоста магнитосферы Земли. Произведена оценка размеров бимлета в продольном (вдоль направления магнитного поля) и в поперечном направлениях. Установлено, что бимлет представляет собой вытянутую вдоль магнитного поля динамическую плазменную структуру, продольный размер которой в сотни раз превышает поперечный.

В. И. Жуков, Модернизация социальных отношений в россии: замыслы, итоги, возможности // Журнал "Социологические исследования", № 6, 2005, http://socis.isras.ru/

Бочаров Николай Викторович, Итоги первого опыта научного руководства // Образование: исследовано в мире [Электрон. ресурс]. -M.: oim.ru, 2002-10-20, http://www.oim.ru/

С помощью времяпролетного атомного зонда исследовалась неравновесная поверхность игольчатого монокристалла гексаборида лантана, полученная в результате полевого испарения при комнатной температуре, и ее некоторые модификации. Масс-спектры полевого испарения позволяли судить о составе поверхности в области вершины острия при различных условиях, в том числе сразу после вытравливания острия, после коррозии в остаточных газах, после интенсивной очистки полевым испарением и после релаксации неравновесной поверхности при нагреве до 1250 K. Обсуждаются вопросы разрушения оксидной корки на поверхности острия и условия получения типичных масс-спектров полевого испарения чистого монокристалла гексаборида лантана, отражающих объемный состав или же обогащенных лантаном.

Попов Ю.а. Некоторые итоги телекоммуникационной конференции студентов и молодых ученых "Молодежь и наука-97" // Научная сессия МИФИ-1998. Т.7 Студенческие идеи, проекты, предложения, стр. 98-100

Попов Ю.а. Некоторые итоги телекоммуникационной конференции студентов и молодых ученых "Молодежь и наука-97" // Научная сессия МИФИ-1998. Т.8 Конференция студентов и молодых ученых. Физические науки, стр. 183-186

Попов Ю.а. Некоторые итоги телекоммуникационной конференции студентов и молодых ученых "Молодежь и наука-97" // Научная сессия МИФИ-1998. Т.9 Конференция студентов и молодых ученых. Компьютерные науки. Информационные технологии, стр. 165-168

Попов Ю.а. Некоторые итоги телекоммуникационной конференции студентов и молодых ученых "Молодежь и наука-97" // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.10 Конференция студентов и молодых ученых. Автоматика. Электроника, стр. 172-175

Попов Ю.а. Некоторые итоги телекоммуникационной конференции студентов и молодых ученых "Молодежь и наука-97" // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.11 Конференция студентов и молодых ученых. Техническая физика, стр. 130-133

Волков Ю.а. Элементная база детекторной электроники (итоги НИР по проекту МНТЦ) // Научная сессия МИФИ-1999. Ч.6 Автоматика. Микроэлектроника. Электроника. Электронные измерительные системы, стр. 152-153