Ломакин С.с. Тестовый модуль для измерения динамических параметров интегральных транзисторов // Научная сессия МИФИ-2002. Т.1 Автоматика. Микроэлектроника. Электроника. Электронные измерительные системы, стр. 131-132

Симонов М.л., Терехов Г.п., Пугачев А.м., Веселова Е.а. Практика по внедрению тестового контроля по курсу "Метрология" // Научная сессия МИФИ-2003. Т.1 Автоматика. Микроэлектроника. Электроника. Электронные измерительные системы, стр. 20-21

Ломакин С.с., Уваров Л.и., Першенков В.с., Трудновская Е.а., Полевиков В.в. Лабораторный стенд для измерения динамических параметров интегральных транзисторов тестовых ИС // Научная сессия МИФИ-2003. Т.1 Автоматика. Микроэлектроника. Электроника. Электронные измерительные системы, стр. 72

Батаев А.в., Синицын С.в. Автоматизированная генерация тестовых данных // Научная сессия МИФИ-2003. Т.2 Технологии разработки программных систем. Информационные технологии, стр. 53-54

Сидоров Е.а., Бобков С.г., Власов А.ю., Пивоваров В.в., Ощепков А.в. Тестово-отладочная система статистического анализа работы сетевого коммутатора // Научная сессия МИФИ-2003. Т.12 Информатика и процессы управления. Компьютерные системы и технологии, стр. 146-147

Колонтаев А.в., Васильев Н.п. Кросплатформенное Web-приложение для тестовой проверки знаний // Научная сессия МИФИ-2003. Т.12 Информатика и процессы управления. Компьютерные системы и технологии, стр. 218-219

Предлагается модификация алгоритмов построения условных и смешанных диагностических тестов и принятия решений в интеллектуальных распознающих системах, связанная с использованием активного сценарного режима. Преимущество применения данного режима обуславливается спецификой таких проблемных областей как медицина, управление, социология, образование и повышение эффективности (качества, стоимости и временных затрат) принимаемых решений.

Разработаны тестовые структуры субмикронных СБИС, которые включают 3 типа структур с различными проектными нормами: КМОП 0,5 мкм; КМОП 0,35 мкм; КМОП 0,18 мкм.

Проведено экспериментальное исследование радиационной деградации основных параметров КМОП КНС инверторов, имеющих различную толщину приборного слоя.

Чжо Чжо Кхаин Послойная генерация тестовых схем в обучающей системе // Научная сессия МИФИ-2007. Т.2 Технологии разработки программных систем. Информационные технологии, стр. 101-103