Найдено научных статей и публикаций: 43
1.
Алгоритм восстановления вычислительных процессов при работе вычислительной системы нетрадиционной архитектуры в реальном масштабе времени в случае возникновения отказов устройств, входящих в ее состав
Градов Е.С. Алгоритм восстановления вычислительных процессов при работе вычислительной системы нетрадиционной архитектуры в реальном масштабе времени в случае возникновения отказов устройств, входящих в ее состав
// Электронный журнал "Исследовано в России", 7, 1036-1048, 2004. http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2004/093.pdf
2.
Отказ su(3) симметрии в сильном взаимодействии
Зельдович Я.Б.. Отказ SU(3) симметрии в сильном взаимодействии // Письма в ЖЭТФ, том 4, вып. 9, http://www.jetpletters.ac.ru
3.
Отказ от новорожденного и репродуктивные права женщины
Исупова О. Г., Отказ от новорожденного и репродуктивные права женщины // Журнал "Социологические исследования", № 1, 2002, http://socis.isras.ru/
4.
Аксиомы коменского или строгий отказ гения научной, природосообразной педагогики всем реформаторам и модернизаторам народного образования
Кумарин В., Аксиомы Коменского или строгий отказ гения научной, природосообразной педагогики всем реформаторам и модернизаторам народного образования // Образование: исследовано в мире [Электрон. ресурс]. -M.: oim.ru, 2002-02-05, http://www.oim.ru/
5.
Особенности исследования радиационных отказов микропроцессора i486
Ворошилов Р.в. Особенности исследования радиационных отказов микропроцессора i486 // Научная сессия МИФИ-1999. Ч.6 Автоматика. Микроэлектроника. Электроника. Электронные измерительные системы, стр. 144-145
6.
Характер отказов плис а1020в при радиационных испытаниях
Власов С.ф. Характер отказов ПЛИС А1020В при радиационных испытаниях // Научная сессия МИФИ-2000. Т.1 Автоматика. Электроника. Микроэлектроника. Электронные измерительные системы, стр. 157-158
7.
Оценка погрешности определения вероятности радиационного отказа интегральных микросхем
Котина М.в., Попов В.д. Оценка погрешности определения вероятности радиационного отказа интегральных микросхем // Научная сессия МИФИ-2001. Т.1 Автоматика. Электроника. Микроэлектроника. Электронные измерительные системы, стр. 131-132
8.
Оценка погрешности определения вероятности радиационного отказа интегральных микросхем
Котина М.в., Попов В.д. Оценка погрешности определения вероятности радиационного отказа интегральных микросхем // Научная сессия МИФИ-2001. Т.1 Автоматика. Электроника. Микроэлектроника. Электронные измерительные системы, стр. 131-132
9.
Облик базы знаний (бз) босэс "дуэль" для случая отказов бортовой аппаратуры
Лыков А.в. Облик базы знаний (БЗ) БОСЭС "Дуэль" для случая отказов бортовой аппаратуры // Научная сессия МИФИ-2001. Т.3 Банки данных и анализ данных. Интеллектуальные системы и технологии. Технологии разработки программных систем, стр. 171-172
10.
Численное моделирование на основе прецизионных расчетов методом монте-карло, как средство для отказа от полномасштабных экспериментов на активных зонах при проектировании реакторов
Сбоев А.г. Численное моделирование на основе прецизионных расчетов методом Монте-Карло, как средство для отказа от полномасштабных экспериментов на активных зонах при проектировании реакторов // Научная сессия МИФИ-2004. Т.7 Астрофизика и космофизика. Проблемы современной математики. Физика пучков и ускорительная техника, стр. 134-135