Бобрешов А.M., Левченко В.Н., Китаев Ю.И., Коровченко И.С., Нестеренко Ю.Н., Усков Г.К. (Bobreshov A.M., Levchenko V.N., Kitaev Yu.I., Korovchenko I.S., Nesterenko Yu.N., Uskov G.K.)
- Международные научно-технические конференции «Радиолокация, навигация, связь» , 2006
Исследуется явление обратимой деградации малошумящих GaAs ПТШ под действием периодических сверхкоротких видеоимпульсов. Проведены эксперименты по определению основных закономерностей этого явления. Получены зависимости величины деградации и времени восстановления ПТШ от параметров импульсов. Дана фи...
Исследуется явление обратимой деградации малошумящих GaAs ПТШ под действием периодических сверхкоротких видеоимпульсов. Проведены эксперименты по определению основных закономерностей этого явления. Получены зависимости величины деградации и времени восстановления ПТШ от параметров импульсов. Дана физическая интерпретация полученных результатов.
Phenomena of recoverable degradation of low noise GaAs MESFET`s under exposure of periodic ultra short videopulses were researched. Experiments of discovering of this phenomenon main lows had been done. Dependences values of degradation and relaxation time of MESFET from pulses parameters had been found. Physical interpretation of results had been shown.
