На основе математической модели описана простая в использовании методика совместных измерений коэффициента Холла и электропроводности прямоугольных полупроводниковых пластин зондовым методом. В результате анализа полученных математических выражений для потенциала электрического поля образца, помещенного в поперечное магнитное поле, даны рекомендации по использованию предложенной методики измерений. Приведены некоторые практические советы по контролю однородности полупроводниковых образцов. Математические выражения для распределения потенциала получены без каких-либо упрощающих предположений, что увеличивает их практическую значимость.
Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - М.: Тест-зл. - Т. 80. - №6. - 2014. - С. 41-44

На основе определенной математической модели рассмотрен способ измерения и контроля свойств контактов металл – полупроводник. Предложенная математическая модель не требует создания специальной тестовой структуры и может быть использована для определения концентрации и подвижности носителей заряда по результатам измерений удельного сопротивления и коэффициента Холла, а также для оценки однородности пластин и пленок по удельному сопротивлению. Расчетные формулы получены без приближений путем решения краевых задач, адекватных физическим условиям. Проанализированы условия, при которых сопротивление растекания двух контактов складывается из сопротивлений растекания каждого контакта в отдельности.
Издательство "Тест-зл", Т. 79, №9, 2013, с. 36-40