Наведено результати досліджень дефектної підсистеми твердого розчину Cd_xHg_1-xTe (0,1 < х < 0,3). Розглянуто вплив ізотермічного відпалу кристалів Cd_xHg_1-xTe на концентрацію носіїв струму і точкових дефектів. Запропоновані кристалоквазіхімічні моделі утворення точкових дефектів у кристалах Cd_xHg_1-xTe.
Анжела Миколаївна Дмитрів, Оксана Любомирівна Сав’як Інверсія типу провідності в твердих розчинах CdxHg1-xTe // Східно-Європейський журнал передових технологій, Vol. 3, Issue 7, 2012, pp. 32-36