В работе анализируется влияние флуктуаций на сверхпроводящие квантовые интерферометры (СКВИДы) постоянного и переменного токов. Численно получены основные зависимости СКВИДов, построены графики вольт-амперных и вольт-полевых характеристик. Изучено влияние флуктуаций на выходные характеристики приборов. В частности, построены графики передаточной характеристики в зависимости от интенсивности флуктуаций тока на входе прибора. Из графиков видно, что в пределах малых шумов увеличение флуктуаций тока на входе линейно увеличивает шумовые характеристики на выходе прибора. Для СВЧ гистерезисного СКВИДа найдена область вольт-полевой характеристики, слабо зависящей от интенсивности шума, показано, что частота накачки w0 = 0.3 минимизирует выходной шум, что позволяет повысить чувствительность данного устройства.