Исследованы параметры, характеризующие воздействие сосредоточенной нагрузки на кристаллы, подвергшиеся различной предварительной обработке, и возможные их связи с механическими характеристиками, проявляющимися при обычной (одномерной) деформации. Показано, что значительное превышение микротверд...
Исследованы параметры, характеризующие воздействие сосредоточенной нагрузки на кристаллы, подвергшиеся различной предварительной обработке, и возможные их связи с механическими характеристиками, проявляющимися при обычной (одномерной) деформации. Показано, что значительное превышение микротвердости над значениями пределов упругости и прочности кристаллов обусловлено не столько большими значениями деформации под индентором, сколько большим значением коэффициента деформационного упрочнения при деформировании сосредоточенной нагрузкой. Показано также, что упрочнения, вызванные одноосной деформацией и реакторным облучением, по-разному влияют на микротвердость кристаллов LiF.
Саралидзе З.К., Галусташвили М.В., Дрияев Д.Г. Особенности деформации щелочно-галоидных кристаллов под действием сосредоточенной нагрузки // ФТТ, 1999, том 41, выпуск 11, Стр. 1999