Ильин М.В. Методы и технические средства определения параметров и характеристик силовых полупроводниковых приборов для группового соединения : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.09.12. - M, 2008.

Рассчитаны поверхности постоянной силы и профили горизонтальной составляющей силы при сканировании острия атомно-силового микроскопа над поверхностью решетки плотной упаковки в контактной моде с учетом подвижности атомов решетки. Показано, что при учете подвижности обнаруженные ранее разрывы на поверхности постоянной силы возникают при меньших силах сканирования острия над поверхностью, чем в приближении неподвижных атомов. Получены силовые поверхности, возникающие при сканировании над вакансией. Обсуждается возможность использования данных атомно-силовой микроскопии для диагностики точечных дефектов на поврехности твердого тела.

Анализируются условия применения нонатрубок в качестве зондов атомно-силового микроскопа (АСМ). Впервые теоретически показано, что одиночные и многослойные трубки с диаметром от 0.5 до 5 nm обеспечивают атомарный уровень разрешения поверхности. Наличие цилиндрической симметрии делает каждый атом поверхности нанотрубки "изображающим". При определенном соотношении между диаметром одиночной нанотрубки и периодом поверхностной структуры атомное разрешение исчезает. Такие нанотрубки представляют особый интерес для зондироания деталей рельефа большего масштаба и исследований в нанотрибологии. В отличие от кремниевые и других (твердых) зондов при жестком контакте с поверхностью нанотрубки не затупляются, а сгибаются, восстанавливая первоначальную форму при снятии напряжения. Определены критические значения нагрузок для функционирования АСМ в отталкивательном режиме.

Методами сканирующей электронной и атомно-силовой микроскопии изучена морфология по-верхности углеродного волокна АКТИЛЕН-Б, а также волокна этого вида, окисленные и моди-фицированные гидроксидом титана электрохимическим и химическим методами. Во всех слу-чаях изучено блочное строение и способ формирования пор различных размеров на поверхно-сти образцов. Проведено сравнение строения поверхностей.

Cтатья посвящена разработке силового блока канала управления рентгеновского дифрактометра. Блок ориентирован на прямое цифровое управление и обеспечивает подключение одного гониометрического модуля. В работе представлены структурная и принципиальная схемы, даны обоснование принятых технических решений и основные характеристики предлагаемого блока.

Работа тиристора ограничена максимальной предельной температурой. Она может достигать 125°C. Техническое описание каждого типа тиристоров включает рабочий диапазон температур, например, от –55°C до 125°C. Электрическая энергия рассеивается в тиристоре при любом направлении тока, что проявляется в виде тепловой энергии через область перехода. Теряемая мощность в кристалле связана с увеличением температуры в области перехода. Фактически эта мощность мала по сравнению с мощностью в контуре. Но не следует забывать, что окружающая температура представляет тот энергетический уровень, от которого происходит увеличение температуры перехода. Окружающая температура на промышленных объектах может достигать повышенных значений, например, она часто составляет 50-60°C 8 страниц, 7 иллюстраций

Рассмотрены основные принципы работы атомно-силового микроскопа и результаты его использования при изучении поверхности клеток миокарда крыс. Отмечены преимущества метода атомно-силовой микроскопии. Подчеркивается, что метод атомно-силовой микроскопии позволяет не только визуализировать клеточную поверхность, но и получить информацию о различных ее свойствах.

В.И. Пожбелко . Силовые закономерности и упруго-деформируемой ременной передачи (новая постановка задачи Эйлера). Известия Челябинского научного центра, http://www.csc.ac.ru/news/, Выпуск 3(8), 2000

Зарецкий Д.Ф., Урин М.Г.. Нейтронные силовые функции // Письма в ЖЭТФ, том 13, вып. 11, http://www.jetpletters.ac.ru

Воронов В.В., Соловьев В.Г.. О нерегулярности в поведении радиационной силовой функции в ^{238}U // Письма в ЖЭТФ, том 23, вып. 1, http://www.jetpletters.ac.ru