Найдено научных статей и публикаций: 4527
271.
Создание аналоговой микроэлектронной элементной базы для физических экспериментов
Создание аналоговой микроэлектронной элементной базы для физических экспериментов
Волков Ю.а., Гольдшер А.и., Цветков С.а. Создание аналоговой микроэлектронной элементной базы для физических экспериментов // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника, стр. 237-238
272.
Выбор структуры и состава специализированного аналогового базового матричного кристалла (абмк)
Выбор структуры и состава специализированного аналогового базового матричного кристалла (абмк)
Аткин Э.в., Кондратенко С.в., Масленников В.в., Плешко А.д., Сатосин М.в. Выбор структуры и состава специализированного аналогового базового матричного кристалла (АБМК) // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника, стр. 243
273.
Исследование характеристик кремниевых интегральных датчиков водорода
Исследование характеристик кремниевых интегральных датчиков водорода
Ледовский К.в., Подлепецкий Б.и., Гуменюк С.в., Коваленко А.в. Исследование характеристик кремниевых интегральных датчиков водорода // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника, стр. 257-258
274.
Комплекс средств проектирования и отладки систем на базе микроконтроллеров фирмы Motorola
Комплекс средств проектирования и отладки систем на базе микроконтроллеров фирмы Motorola
Шагурин И.и., Толстов Ю.а., Петров С.г., Исенин И.м. Комплекс средств проектирования и отладки систем на базе микроконтроллеров фирмы Motorola // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника, стр. 261-263
275.
Расчет и прогнозирование интенсивности единичных сбоев в условиях космического пространства
Расчет и прогнозирование интенсивности единичных сбоев в условиях космического пространства
Зебрев Г.и., Усеинов Р.г., Улимов В.н. Расчет и прогнозирование интенсивности единичных сбоев в условиях космического пространства // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника, стр. 268-269
276.
Выбор конструкции датчиков температуры мощных интеллектуальных ис с помощью средств моделирования
Выбор конструкции датчиков температуры мощных интеллектуальных ис с помощью средств моделирования
Петросянц К., Рябов Н.и. Выбор конструкции датчиков температуры мощных интеллектуальных ИС с помощью средств моделирования // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника, стр. 275-277
277.
Ns2000 - программный комплекс управления предприятием
Ns2000 - программный комплекс управления предприятием
Гареев А.ф., Дзенгелевский А.е., Евстратов М.к., Евсюков А.а., Маслов Д.с., Гусев И.ю., Бурков В.а., Доценко Д.с., Шкурин М.е. NS2000 - программный комплекс управления предприятием // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника, стр. 64-67
278.
Исследование технологического маршрута изготовления мдп-транзисторов со структурой "кремний на изоляторе" с помощью приборно-технологической сапр
Исследование технологического маршрута изготовления мдп-транзисторов со структурой "кремний на изоляторе" с помощью приборно-технологической сапр
Адонин А.с., Беспалов А.в., Петросянц К.о., Суворов А.л. Исследование технологического маршрута изготовления МДП-транзисторов со структурой "кремний на изоляторе" с помощью приборно-технологической САПР // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника, стр. 273-275
279.
Библиотека моделей мдп-транзисторов для моделирования эффектов стационарного, импульсного излучений и воздействия одиночных частиц для программы pspice
Библиотека моделей мдп-транзисторов для моделирования эффектов стационарного, импульсного излучений и воздействия одиночных частиц для программы pspice
Адонин А.с., Самров Н.п., Петросянц К., Харитонов И. Библиотека моделей МДП-транзисторов для моделирования эффектов стационарного, импульсного излучений и воздействия одиночных частиц для программы PSPICE // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника, стр. 277-279
280.
Оценка радиационной стойкости типовых ячеек бмк и схем памяти, изготовленных по кнс/кни технологиям
Оценка радиационной стойкости типовых ячеек бмк и схем памяти, изготовленных по кнс/кни технологиям
Адонин А.с., Беспалов А.в., Петросянц К., Харитонов И. Оценка радиационной стойкости типовых ячеек БМК и схем памяти, изготовленных по КНС/КНИ технологиям // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника, стр. 279-281